检测项目
1.基态能级测定:分辨率≤0.1eV(电子伏特),能量范围1-1500eV
2.电子云密度分布:空间分辨率达0.5nm
3.轨道角动量分析:测量精度0.05ħ(约化普朗克常数)
4.核外电子结合能:误差范围0.3eV
5.原子极化率测试:灵敏度10⁻⁰Cm/V
检测范围
1.半导体材料(硅/锗单晶、III-V族化合物)
2.金属及合金(过渡金属、稀土金属体系)
3.超导材料(YBCO、铁基超导体)
4.纳米结构材料(量子点、碳纳米管)
5.功能陶瓷(压电陶瓷、介电陶瓷)
检测方法
1.X射线光电子能谱法(ISO15472:2010,GB/T29556-2013)
2.俄歇电子能谱法(ASTME827-20,GB/T17359-2020)
3.紫外光电子能谱法(ISO19318:2021)
4.场发射透射电镜法(GB/T35033-2018)
5.同步辐射吸收谱法(ISO16742:2014)
检测设备
1.ThermoScientificESCALABXi+XPS系统:配备单色AlKα源和半球分析器
2.JEOLJAMP-9500F俄歇微探针:空间分辨率达8nm
3.SPECSPHOIBOS150UPS分析仪:紫外光源能量范围5-40eV
4.FEITitanG280-200TEM:点分辨率0.07nm
5.BrukerD8ADVANCEXRD系统:Cu靶光源(λ=1.5406)
6.PerkinElmerLambda1050+紫外分光光度计:波长范围175-3300nm
7.Agilent8900ICP-MS/MS:质量分辨率>10,000
8.ShimadzuAXISSupraXPS系统:多模式离子枪配置
9.OxfordInstrumentsAztecEnergyEDS系统:硅漂移探测器
10.RigakuSmartLabX射线衍射仪:高灵敏度HyPix-3000探测器
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。