胶片形状检测
点击：913丨发布时间：2025-05-14 19:18:39丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，胶片形状检测
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
1.厚度均匀性：测量点间距≤5mm，公差0.02mm
2.边缘直线度：最大允许偏差0.05mm/m
3.孔径定位精度：XY轴偏差≤15μm
4.表面平整度：平面度误差＜0.1mm/300mm
5.轮廓吻合度：与CAD模型偏差≤50μm
6.切口角度：斜切面角度公差0.5
7.卷曲变形量：翘曲高度≤0.3mm/100mm
检测范围
1.医用X光胶片（CR/DR成像板）
2.印刷电路板（FPC）覆盖膜
3.工业探伤用射线胶片
4.光学压印模板（NIL模板）
5.柔性显示基材（OLED封装膜）
6.航空航天用复合胶膜
检测方法
1.ASTMD6287-17非接触式厚度测量法
2.ISO12233:2017光学影像尺寸测量规范
3.GB/T2951.11-2008绝缘材料厚度测定
4.ISO10110-5:2015光学元件表面缺陷评估
5.GB/T16491-2008电子万能试验机校准规范
6.ASTME2919-14数字图像相关法应变测量
检测设备
1.MitutoyoQV-302PRO三坐标影像测量仪（1μm精度）
2.KeyenceLM-9000激光轮廓扫描仪（Z轴分辨率0.01μm）
3.OlympusDSX1000数码显微系统（20-7000倍变焦）
4.HexagonAbsoluteARM7轴便携测量臂（空间精度15μm）
5|ZygoNewView9000白光干涉仪（垂直分辨率0.1nm）
6|InstronE10000电子拉力试验机（0.5级载荷精度）
7|OGPSmartScopeFlash500多传感器系统（复合式测量）
8|NikonNEXIVVM-300SCNC影像仪（自动对焦系统）
9|BrukerContourGT-X3三维表面轮廓仪（1nm垂直分辨率）
10|ZeissO-INSPECT543复合式三坐标（多探针协同测量）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
前沿项目