二维氮化硼薄膜检测

点击:94丨发布时间:2025-06-09 11:13:07丨关键词:CMA/CNAS资质,中析研究所,二维氮化硼薄膜检测

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参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

检测项目

物理特性检测:

  • 厚度测量:平均厚度(0.3-5nm)、均匀性偏差(RSD≤3%,参照ISO21363)
  • 表面形貌:粗糙度(Ra≤0.5nm)、层间堆叠缺陷密度
晶体结构检测:
  • 晶格参数:晶面间距(d=0.333nm±0.005nm)、晶向偏差(θ≤2°)
  • 缺陷分析:空位浓度(≤5×10^{-4})、晶界密度(GB/μm²)
力学性能检测:
  • 弹性模量:杨氏模量(≥800GPa)、泊松比(0.2±0.05)
  • 拉伸强度:断裂强度(≥70GPa)、应变率(10^{-3}s^{-1})
热学性能检测:
  • 导热系数:面内热导率(>300W/mK)、热膨胀系数(CTE≤2×10^{-6}K^{-1})
  • 热稳定性:分解温度(≥900℃,参照ASTME1131)
电学性能检测:
  • 绝缘性能:击穿场强(≥10MV/cm)、电阻率(>10^{14}Ω·cm)
  • 介电常数:频域介电值(ε_r=3-5@1kHz)
光学性能检测:
  • 透光率:可见光波段(≥95%@550nm)、紫外吸收峰(~210nm)
  • 荧光特性:量子产率(QY≥0.8)、发射波长
化学稳定性检测:
  • 耐腐蚀性:酸碱环境失重率(≤0.1mg/cm²,参照ISO9227)
  • 抗氧化性:高温氧化增重(≤1%@800℃)
表面化学检测:
  • 元素组成:B/N原子比(1:1±0.03)、杂质含量(O≤0.5at%)
  • 官能团分析:羟基覆盖率、(-OH≤2%)
界面性能检测:
  • 结合强度:膜基附着力(≥50MPa)、剪切模量
  • 浸润性:接触角(>90°)
功能性涂层检测:
  • 屏蔽效能:电磁屏蔽(SE>30dB@1GHz)、气体阻隔性(OTR≤0.01cc/m²/day)
  • 摩擦系数:动态摩擦力(μ≤0.05)

检测范围

1.单层氮化硼薄膜:原子层级平整度检测,侧重晶格缺陷及电绝缘性能

2.多层堆叠薄膜:层间界面结合强度分析,重点控制厚度均匀性及热导率

3.硅基集成薄膜:用于半导体封装,检测界面应力分布及介电常数稳定性

4.金属基底涂层:铜/铝基导热界面,关注膜基附着力及高温氧化性能

5.柔性衬底薄膜:聚酰亚胺支撑结构,弯折疲劳寿命及表面粗糙度控制

6.复合异质结构:石墨烯/氮化硼双层,检测层间电荷转移及热管理效能

7.功能化改性薄膜:羟基/氟化表面处理,验证化学稳定性及浸润性变化

8.电子封装薄膜:高频电路隔离层,重点检测击穿场强及介电损耗

9.光学窗口涂层:紫外防护应用,透光率均匀性及荧光量子产率测试

10.纳米传感器薄膜:气体敏感层,表面官能团密度及响应灵敏度评估

检测方法

国际标准:

  • ISO13067:2016原子力显微镜表面粗糙度测量
  • ASTMF1526-18薄膜热导率激光闪光法
  • ISO14703:2019透射电镜晶格缺陷表征
  • ASTMD257-14绝缘材料电阻率测试
国家标准:
  • GB/T34336-2017二维材料厚度椭偏仪检测
  • GB/T39859-2021氮化物薄膜化学成分光谱分析
  • GB/T10247-2019薄膜导热性能测试
  • GB/T16522-2018介电强度击穿试验
(方法差异说明:ISO13067与GB/T34336在粗糙度采样点密度要求不同;ASTMF1526热导率测试采用脉冲激光法,GB/T10247则规定稳态热流法,导致精度差异±5%)

检测设备

1.原子力显微镜:BrukerDimensionIcon型(分辨率0.1nm,扫描范围100μm)

2.椭偏仪:J.A.WoollamM-2000VI型(波长范围245-1700nm,膜厚精度±0.1nm)

3.拉曼光谱仪:RenishawinViaQontor型(激光波长532nm,光谱分辨率1cm^{-1})

4.透射电子显微镜:FEITecnaiF20型(点分辨率0.24nm,加速电压200kV)

5.X射线光电子能谱仪:ThermoScientificK-Alpha型(能量分辨率0.5eV,检出限0.1at%)

6.激光闪光导热仪:NetzschLFA467HyperFlash型(温度范围-100~500℃,精度±3%)

7.半导体参数分析仪:KeysightB1500A型(电流分辨率1fA,电压范围±100V)

8.纳米压痕仪:AgilentG200型(载荷范围0.1-500mN,位移分辨率0.01nm)

9.紫外可见分光光度计:ShimadzuUV-3600型(波长范围185-3300nm,带宽0.1nm)

10.四探针电阻仪:Keithley2450型(电阻测量范围10μΩ-200MΩ,精度±0.1%)

11.接触角测量仪:DataphysicsOCA20型(角度分辨率0.1°,温度控制-10~150℃)

12.高真空镀膜系统:KurtJ.LeskerPVD75型(真空度<10^{-7}Torr,膜厚监控精度±2%)

13.恒温恒湿箱:EspecSH-261型(温度范围-70~150℃,湿度10-98%RH)

14.电磁屏蔽室:ETS-LindgrenModel26型(屏蔽效能>100dB,频率范围10kHz-40GHz)

15.摩擦磨损试验机:CSMInstrumentsTribometer型(载荷0.01-10N,速度0.1-100mm/s)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。