点击:94丨发布时间:2025-05-26 12:38:07丨关键词:CMA/CNAS/ISO资质,中析研究所,三氯化銠检测
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.铑含量测定:采用ICP-OES法测定Rh⁺质量分数(≥99.9%)
2.氯离子浓度分析:电位滴定法测定Cl⁻占比(62.5%-63.5%)
3.杂质元素筛查:ICP-MS检测Fe、Pb、Pt等18种金属杂质(总量≤500ppm)
4.水分含量测试:卡尔费休法控制游离水(≤0.5%)
5.溶解性验证:在盐酸体系中的溶解度(≥50g/100mL,20℃)
1.化工催化剂前驱体:包括均相/非均相催化体系原料
2.电子元器件镀层材料:半导体封装用镀液主成分
3.医药中间体合成原料:特定抗癌药物合成试剂
4.电镀液原料:精密仪器表面处理溶液
5.贵金属合金添加剂:特种耐蚀合金制备原料
1.ASTME1479-16:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定贵金属含量
2.ISO20552:2007:工作场所空气-汞测定-原子吸收光谱法(适用于蒸气态铑化合物)
3.GB/T23942-2009:化学试剂电感耦合等离子体原子发射光谱法通则
4.GB/T9725-2007:化学试剂电位滴定法通则
5.JISK0114:2000:X射线荧光光谱分析法通则
1.PerkinElmerOptima8300电感耦合等离子体发射光谱仪:多元素同步定量分析
2.Metrohm905Titrando自动电位滴定仪:氯离子精准测定
3.Agilent7900ICP-MS质谱仪:痕量杂质元素筛查(检出限0.01ppb)
4.MettlerToledoXPR205微量天平:样品精密称量(精度0.01mg)
5.MalvernPanalyticalEmpyreanX射线衍射仪:晶体结构验证
6.ShimadzuUV-2600i紫外分光光度计:特定络合物吸光度测定
7.Metrohm851库仑法水分测定仪:微量水分分析(精度1μg)
8.ThermoScientificiCAPRQICP-MS:同位素比值分析
9.BuchiB-545熔点测定仪:热稳定性评估(范围RT-400℃)
10.SartoriusCubisMSA225P电子天平:常规称量(精度0.1mg)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。