交互式光盘检测

点击：93丨发布时间：2025-05-15 10:03:36丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，交互式光盘检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.反射率测试：波长650nm处反射系数≥70%，容差5%
2.误码率分析：BLER值≤220ECC不可纠错块/秒
3.基板厚度测量：标称值1.2mm0.03mm（CD类介质）
4.翘曲度检测：径向偏差≤0.6mm/m，切向偏差≤0.4mm/m
5.加速老化测试：85℃/85%RH环境下持续96小时数据完整性验证

检测范围

1.CD-R/RW类可刻录光盘
2.DVDRDL双层记录介质
3.BDXL四层蓝光存储盘
4.工业级归档用金属氮化层光盘
5.特殊环境用抗UV涂层可打印光盘

检测方法

1.ISO/IEC17321:2015光学反射特性测量规范
2.ASTME1841-04(2016)数字存储介质加速老化规程
3.GB/T16971-1997只读光盘信号特性测量方法
4.ISO/IEC10995:2011光盘寿命预测方法学
5.GB/T26225-2010可录类光盘机械特性测试标准

检测设备

1.EliteAdvancedTechnologyAT-900光学分析仪（波长范围405-780nm）
2.PulseInstrumentsPI-3000误码率测试系统（支持CLV/CAV模式）
3.OptoTestOP35-LS激光干涉厚度计（分辨率0.1μm）
4.LabsphereCDM-900A环境应力测试箱（温控精度0.5℃）
5.KeyenceVHX-7000三维表面形貌仪（5000倍数字变焦）
6.AgilentN4983A基带信号发生器（12GHz带宽）
7.BrukerContourGT-K光学轮廓仪（垂直分辨率0.1nm）
8.ShimadzuAGS-X万能材料试验机（载荷范围0.1N-20kN）
9.ThermoScientificNicoletiS50傅里叶红外光谱仪
10.OlympusBX53M工业显微镜（微分干涉对比功能）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

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