氧缺位检测

点击：94丨发布时间：2025-05-19 15:00:09丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，氧缺位检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.氧空位浓度：测量范围110¹⁵-110²⁰cm^-3，精度5%

2.空位扩散系数：温度范围25-1000℃，分辨率0.01cm²/s

3.缺陷激活能：测试范围0.1-5.0eV，误差≤0.05eV

4.局域电子态密度：能量分辨率0.01eV@1keV

5.晶格畸变率：应变测量精度0.02%，空间分辨率1nm

1.半导体材料：GaN、SiC、ZnO单晶及薄膜

2.金属氧化物：TiO₂、HfO₂、Al₂O₃

3.功能陶瓷：BaTiO₃、SrTiO₃、PZT压电陶瓷

4.催化剂载体：CeO₂基催化剂、钙钛矿型催化剂

5.电池材料：LiCoO₂正极材料、固态电解质LLZO

1.ASTME112-13：电子背散射衍射法测定晶格畸变

2.ISO18516:2019：X射线光电子能谱深度剖析技术

3.GB/T13390-2008：正电子湮没寿命谱分析法

4.ASTMF1526-18：二次离子质谱(SIMS)定量分析标准

5.GB/T30834-2014：光致发光光谱法缺陷态检测规程

1.FEINovaNanoSEM450：场发射扫描电镜，配备EDS/EBSD联用系统

2.ThermoScientificK-Alpha+：单色化X射线光电子能谱仪

3.ORTECPositronLifetimeSpectrometer：正电子寿命谱仪（时间分辨率220ps）

4.CAMECAIMS7f-Auto：高灵敏度二次离子质谱仪（质量分辨率M/ΔM≥20,000）

5.HoribaLabRAMHREvolution：共聚焦显微拉曼光谱仪（532/633/785nm激光源）

6.Agilent5500AFM/STM：原子力/扫描隧道显微镜联用系统（Z轴分辨率0.01nm）

7.BrukerD8ADVANCE：高分辨X射线衍射仪（Cu靶Kα辐射源）

8.OxfordInstrumentsPlasmaPro100：等离子体处理与低温输运测量系统（4-400K）

9.KeysightB1500A：半导体参数分析仪（电流分辨率0.1fA）

10.PerkinElmerLambda1050+：紫外-可见-近红外分光光度计（波长范围175-3300nm）

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

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