光学工艺学检测
点击：96丨发布时间：2025-05-12 22:18:00丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，光学工艺学检测
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
1.面形精度：测量光学元件表面与理想曲面的偏差，PV值（峰谷值）≤λ/10（λ=632.8nm），RMS值≤λ/50。
2.表面粗糙度：采用白光干涉法检测Ra值≤0.5nm，局部缺陷尺寸≤0.1mm。
3.透过率：光谱范围200-2500nm内透过率偏差≤0.5%，吸收损耗≤0.1%。
4.折射率均匀性：Δn≤510⁻⁶（@633nm），梯度变化≤210⁻⁶/cm。
5.镀膜厚度：膜层厚度误差≤3%，附着力测试通过百格法5B等级。
检测范围
1.光学玻璃：包括熔融石英、BK7、SF11等材料制成的透镜、棱镜。
2.晶体材料：氟化钙（CaF₂）、硅（Si）、锗（Ge）等红外窗口元件。
3.聚合物材料：PMMA、PC材质的非球面镜片与衍射光学元件。
4.镀膜元件：增透膜、分光膜、高反膜的膜系性能验证。
5.光纤产品：光纤端面几何参数与连接器插入损耗测试。
检测方法
1.ISO10110-5:2015光学元件面形误差评价标准
2.ASTME903-12材料光谱透射比测试方法
3.GB/T1185-2006光学零件表面疵病等级判定
4.ISO14997:2011光学表面缺陷的干涉测量法
5.GB/T26331-2010光学薄膜折射率及厚度测试规程
检测设备
1.ZYGOGPIXP/D激光干涉仪：面形精度测量精度达λ/1000（PV值）
2.TaylorHobsonCCIHD非接触式轮廓仪：表面粗糙度分辨率0.01nm
3.PerkinElmerLambda1050分光光度计：光谱范围175-3300nm
4.TriopticsOptiCentric双光路中心偏测量仪：角度误差0.5″
5.BrukerContourGT-K光学轮廓仪：三维形貌重建精度0.1nm
6.Agilent8700激光干涉测厚仪：膜厚测量重复性0.1nm
7.MitutoyoMF-U1000高精度影像测量仪：几何尺寸误差0.5μm
8.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜：横向分辨率120nm
9.NewportAutoAlign自动准直系统：光轴对准精度1μm
10.ThorlabsPAX1000偏振分析仪：消光比测量范围60dB
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
前沿项目