集成电路安全安全性检测

点击：957丨发布时间：2026-04-23 01:38:27丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，集成电路安全安全性检测

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.电气参数安全测试：漏电流测试，耐压能力测试，静态功耗测试，端口耐受性测试，阈值电压测试。

2.静电放电防护测试：人体模型放电测试，机器模型放电测试，充电器件模型放电测试。

3.闩锁效应测试：触发条件评估，维持电流测试，恢复特性测试。

4.电磁兼容性测试：辐射发射测试，传导发射测试，辐射抗扰测试，传导抗扰测试。

5.环境适应性测试：高温存储测试，低温存储测试，温度循环测试，湿热循环测试。

6.可靠性寿命测试：高温工作寿命测试，温度湿度偏置测试，早期失效率测试。

7.物理结构安全分析：内部缺陷检测，封装完整性检查，键合强度评估。

8.材料成分分析：有害物质含量检测，污染元素检测，纯度评估。

9.功能安全测试：逻辑功能验证，异常输入响应测试，保护机制有效性测试。

10.侧信道攻击防护测试：功耗分析防护评估，电磁泄漏防护评估，时间攻击防护评估。

11.机械应力测试：振动测试，机械冲击测试，恒定加速度测试。

12.耐久性测试：周期读写耐久测试，数据保持能力测试。

检测范围

数字集成电路，模拟集成电路，混合信号集成电路，微处理器芯片，存储器芯片，电源管理芯片，接口控制芯片，传感器集成电路，射频集成电路，安全加密芯片，汽车级集成电路，工业控制集成电路，消费电子集成电路，通信基带芯片，图形处理器芯片。

检测设备

1.自动测试设备：用于施加输入信号并采集输出响应，验证芯片功能与性能参数的一致性。

2.静电放电模拟器：模拟不同放电模型下的瞬态脉冲，评估芯片防护电路的耐受能力。

3.环境试验箱：提供高温、低温、湿热等可控环境条件，考察芯片参数稳定性与结构完整性。

4.电磁兼容测试系统：测量辐射与传导发射水平，以及芯片对外部电磁干扰的抗扰能力。

5.X射线检测仪：无损透视芯片内部结构，识别封装缺陷、键合异常或空洞问题。

6.扫描电子显微镜：高分辨率观察芯片表面与截面微观形貌，分析材料缺陷与失效机理。

7.探针台系统：对晶圆级芯片进行电学参数测量，实现精准定位与多点测试。

8.可靠性寿命测试平台：持续施加工作应力，加速模拟长期使用条件下的性能退化。

9.故障注入测试设备：模拟电源扰动或信号异常，验证芯片在非正常状态下的安全响应。

10.侧信道分析设备：采集芯片运行时的功耗或电磁特征，评估潜在信息泄露风险。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。