点击:948丨发布时间:2024-03-13 23:09:03丨关键词:CMA/CNAS资质,中析研究所,硅粉检测
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
北京中科光析科学技术研究所进行的硅粉检测,可出具严谨、合法、合规的第三方检测报告。检测范围包括:氧化硅、二氧化硅、纳米硅粉、微米硅粉、纳米二氧化硅、微米;检测项目包括不限于化学成分分析、粒度分析、杂质含量、比表面积测定、烧失量、PH等。
1. 活性检测:将硅粉与活性试剂接触并观察反应情况。例如,可以使用稀硫酸或盐酸与硅粉反应,如果产生气体释放、产生白烟或溶解现象,可能表明硅粉具有活性。
2. 纯度检测:通过测定硅粉中杂质的含量来判断其纯度。常见的方法包括重量差减法、化学分析法和光谱分析法。
3. 粒度检测:采用颗粒分析技术,通过对硅粉颗粒的大小、分布进行测量来评估其粒度。常用的方法包括激光粒度仪、研钵法和筛分法。
4. 化学成分检测:使用化学分析方法确定硅粉的化学成分。常见的方法包括原子吸收光谱、电感耦合等离子体发射光谱和X射线荧光光谱。
5. 表面形态检测:通过显微镜观察硅粉的表面形貌,评估其形态特征。常用的方法包括扫描电镜和透射电镜。
硅粉检测仪器主要用于检测硅粉中结构、纯度、粒径分布等参数,以保证硅粉质量符合要求。
常用的硅粉检测仪器有:
1. 红外光谱仪:通过测量硅粉样品在红外波段的吸收和发射能量,可以分析硅粉中的各种成分和杂质。
2. X射线衍射仪:利用硅粉样品对入射X射线的衍射效应进行测量,可以确定硅粉的晶体结构和晶格参数。
3. 激光粒度分析仪:通过激光散射原理,测量硅粉样品中颗粒的散射光强度和散射角度,从而得到硅粉的粒径分布。
4. 热重分析仪:通过加热硅粉样品,测量其质量随温度变化的趋势,可以确定硅粉的热稳定性和含水量。
5. 电导率计:测量硅粉样品的电导率,可以评估硅粉中杂质的含量和电性性质。
这些仪器在硅粉生产和质量控制中起到了重要作用,能够准确、快速地检测硅粉的各项指标,以保证产品的质量和性能。
如果您需要指定相关标准,或要求非标测试、设计试验等,请与工程师联系!
GB/T 42276-2022 氮化硅粉体中氟离子和氯离子含量的测定 离子色谱法
GB/T 32573-2016
GB 16196-1996 车间空气中凝聚二氧化硅粉尘卫生标准
GB 11725-1989 车间空气中含80%以上游离二氧化硅粉尘卫生标准
GB 11724-1989 车间空气中含50%~80%游离二氧化硅粉尘卫生标准
行业标准
JC/T 2515-2019
DL/T 5777-2018 水工混凝土掺用
JB/T 13477-2018 200级有机
HG/T 5088-2016 有机
YS/T 724-2016 多晶硅用
YS/T 1160-2016 工业
YS/T 1109-2016 有机
YS/T 984-2014 硅粉化学分析方法 硼、磷含量的测定
JC/T 2149-2012 高纯碳化硅粉体成分分析方法
YB/T 4229-2010 用于水泥和混凝土中的
地方标准
DB15/T 1240-2017
DB53/T 749-2016 工业
DB53/T 748-2016 工业硅粉粒度的测定 自动振筛法