粒状结晶检测
点击：95丨发布时间：2025-05-27 15:53:25丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，粒状结晶检测
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
1.粒径分布：D10(≤5μm)、D50(10-50μm)、D90(≤100μm)统计值
2.晶体形貌：长径比(1:1-3:1)、表面粗糙度(Ra≤0.2μm)
3.晶格常数：XRD测定精度0.0001nm
4.结晶度：DSC法测定熔融焓(≥90%)
5.杂质含量：EDS能谱元素检出限(≥0.1wt%)
检测范围
1.金属合金：钛合金粉末(TC4)、高温合金(IN718)
2.制药原料：阿司匹林晶体(USP标准)、头孢类抗生素
3.化工催化剂：ZSM-5分子筛、钯碳催化剂
4.陶瓷材料：氧化铝研磨介质(99.5%纯度)
5.半导体晶体：单晶硅片(111晶向)、GaN外延层
检测方法
1.ASTME112-13：晶粒度测定比较法
2.ISO13322-1:2014：静态图像分析法
3.GB/T23413-2009：纳米晶体尺寸XRD测定法
4.ASTMD8090-17：激光衍射粒度分析通则
5.GB/T30714-2014：工业结晶产品检验规范
检测设备
1.扫描电镜(SEM)：HitachiSU5000(5nm分辨率)
2.激光粒度仪：MalvernMastersizer3000(0.01-3500μm)
3.X射线衍射仪：RigakuSmartLab(45kV/200mA)
4.热分析系统：TAInstrumentsDSC250(0.1μW)
5.三维形貌仪：BrukerContourGT-K(0.1nm垂直分辨率)
6.能谱仪：OxfordX-MaxN150(SDD探测器)
7.偏光显微镜：OlympusBX53M(500放大倍率)
8.原子力显微镜：BrukerDimensionIcon(接触模式)
9.动态光散射仪：MalvernZetasizerNanoZS(0.3nm-10μm)
10.高温显微镜：LeicaDM2700M(1600℃加热台)
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
前沿项目