红外发光器检测
点击：910丨发布时间：2025-05-20 12:02:33丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，红外发光器检测
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
1.中心波长精度：采用光谱分析法测量发射主峰波长值，偏差需控制在5nm以内
2.半峰宽（FWHM）：通过高分辨率光谱仪测定光谱带宽，典型值≤30nm
3.辐射功率密度：使用积分球系统测量850-1550nm波段功率输出，单位mW/sr
4.发散角特性：基于远场光斑分析系统测试垂直/水平方向发散角（典型值15-40）
5.温度稳定性：在-40℃至+85℃环境箱中测试波长漂移量（要求≤0.1nm/℃）
6.调制响应时间：通过脉冲发生器与示波器测量10%-90%上升时间（纳秒级）
7.光电转换效率：计算输入电流与输出光功率比值（单位W/A）
检测范围
1.近红外LED芯片：850nm/940nm波段GaAs基半导体器件
2.激光二极管组件：1310nm/1550nm通信波段TO-CAN封装器件
3.红外传感器模组：含PD/APD光电二极管的光接收单元
4.光学镀膜窗口片：AR/IR镀膜的蓝宝石或硅基光学元件
5.热成像核心部件：非制冷型微测辐射热计焦平面阵列
6.光纤耦合器件：带FC/SC接口的尾纤输出型发光组件
检测方法
1.ASTME275-08(2021)：描述红外光谱仪校准与测试规程
2.ISO12005:2003：激光束参数测量方法（发散角/束宽）
3.GB/T15651-2021：半导体分立器件测试方法通则
4.IEC60825-1:2014：激光产品安全等级分类标准
5.GB/T26183-2010：红外辐射加热器测量方法
6.ISO18526-3:2020：光辐射安全测试规范
7.SJ/T11820-2022：半导体激光器光电参数测试方法
检测设备
1.光谱分析仪AQ6375D（横河）：波长范围1200-2400nm，分辨率0.05nm
2.积分球系统ISP-1000（Labsphere）：直径1m，配备InGaAs探测器阵列
3.光功率计2936-R（Newport）：测量范围10nW-10W，不确定度0.8%
4.温控探针台TP030B（Cascade）：温度控制精度0.5℃，支持DC-40GHz测试
5.光束质量分析仪CinCamCMOS-1201（CINOGY）：分辨率12801024像素
6.脉冲发生器8114A（Keysight）：上升时间＜3ns，最大电压20Vpp
7.高低温试验箱GDJS-100B（广五所）：温度范围-70℃~+150℃
8.LIV测试系统LTS-1000（致茂电子）：集成I-V/L-I曲线扫描功能
9.FTIR光谱仪NicoletiS50（赛默飞）：波数范围7800-350cm⁻
10.EMI测试接收机ESU40（罗德与施瓦茨）：频率范围9kHz-40GHz
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
前沿项目