銠检测
点击：93丨发布时间：2025-05-19 12:37:32丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，銠检测
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
1.纯度分析：采用ICP-OES法测定Rh含量≥99.95%，分辨率0.0001%
2.杂质元素含量：包括Pt、Pd、Ir等14种伴生元素检测，检出限0.5ppm
3.镀层厚度测定：XRF法测量范围0.05-50μm，精度0.02μm
4.晶粒尺寸分析：TEM观测范围10-500nm，晶界清晰度误差＜3%
5.表面形貌表征：SEM分辨率3nm@30kV，放大倍数20-100000
检测范围
1.贵金属合金：Rh-Pt热电偶材料、Rh-Ir高温合金
2.汽车催化剂：三元催化器涂层中的Rh基复合材料
3.电子元件：溅射靶材、电接触材料中的高纯铑制品
4.珠宝首饰：含铑电镀层的贵金属饰品
5.化工催化剂：硝酸生产用Pt-Rh网催化剂
检测方法
1.ASTME1479-16电感耦合等离子体原子发射光谱法
2.ISO11885:2007水质-电感耦合等离子体质谱法
3.GB/T15072.18-2023贵金属合金化学分析方法
4.ASTMB748-90(2021)X射线荧光膜厚测量标准
5.GB/T23413-2023纳米材料晶粒尺寸测定方法
检测设备
1.ThermoFisheriCAPRQICP-MS：痕量元素分析精度0.1ppt
2.BrukerD8ADVANCEXRD：θ/θ测角仪精度0.0001
3.HitachiSU5000FE-SEM：冷场发射电子枪技术
4.MalvernMastersizer3000：粒径分析范围0.01-3500μm
5.PerkinElmerOptima8300DVICP-OES：轴向观测等离子体技术
6.FischerXDV-SDDXRF测厚仪：多图层分析软件MDC模块
7.NetzschSTA449F5同步热分析仪：TG-DSC联用系统
8.Agilent7900ICP-MS：MS/MS模式消除质谱干扰
9.ZeissSigma500SEM：GeminiII电子光学系统
10.ShimadzuAIM-9000红外显微镜：空间分辨率1μm
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
前沿项目