四探针法检测

点击：94丨发布时间：2025-05-16 11:04:28丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，四探针法检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.体电阻率测量：量程110^-4-110⁶Ωcm，精度0.5%
2.薄层电阻（方块电阻）：测量范围0.1mΩ/□-100MΩ/□
3.导电类型判定：N型/P型半导体判别灵敏度0.1mV
4.载流子浓度分析：分辨率110¹⁴-110²⁰cm^-3
5.迁移率计算：霍尔迁移率测量误差≤3%

检测范围

1.半导体材料：单晶硅/锗片、GaAs/GaN晶圆
2.薄膜材料：ITO透明导电膜、光伏用CIGS薄膜
3.导电涂层：电磁屏蔽镀层、OLED阳极金属层
4.新能源材料：锂电集流体铜箔、燃料电池双极板
5.陶瓷材料：压敏电阻ZnO陶瓷、热敏电阻NTC/PTC元件

检测方法

ASTMF84-1999(2020)硅材料电阻率标准测试规程
ISO3915:2021碳基材料体积电阻率测定方法
GB/T1551-2021硅单晶电阻率直排四探针测量方法
GB/T24521-2020柔性显示用透明导电薄膜测试规范
IEC60404-13:2018软磁材料直流磁性能测试方法

检测设备

1.Keithley2400系列源表：四线制高精度I-V特性分析
2.LorestaGPMCP-T610：0.01μΩcm-10MΩcm宽量程测试
3.JandelRM3000+：自动温控探针台(-70℃~300℃)
4.AgilentB1505A功率器件分析仪：脉冲模式抗热效应测量
5.MitsubishiMCP-PD51：100mm晶圆全自动多点扫描系统
6.FourDimensions280SI：纳米级接触压力控制探针头
7.SemilabEC-80P：非接触式载流子浓度同步分析模块
8.CascadeSummit12000B-MEMS：微区四探针测试平台(10μm分辨率)
9.RTS-9型双电测数字式四探针仪：符合GB/T14141标准配置
10.LakeShoreCRX-VF低温探针台：4K超导材料临界电流测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

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