单张厚度差检测

点击：97丨发布时间：2025-05-14 20:28:45丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，单张厚度差检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.基材平均厚度：测量范围0.01-10.00mm，分辨率0.1μm
2.厚度极差：计算单张材料最大与最小厚度差值
3.横向厚度分布：沿材料宽度方向每50mm间隔测量
4.纵向波动系数：连续测量100m长度内的厚度标准差
5.边缘收缩率：距边缘10mm处与中心区域厚度比值

检测范围

1.金属箔材：锂电池铜箔（6-20μm）、铝箔（10-50μm）
2.高分子薄膜：BOPP包装膜（15-60μm）、PET光学膜（50-250μm）
3.特种纸张：电解电容器纸（8-40μm）、卷烟纸（18-30μm）
4.陶瓷基板：氧化铝基板（0.25-1.00mm）、氮化硅基板（0.3-0.8mm）
5.复合材料：碳纤维预浸料（0.12-0.30mm）、电磁屏蔽膜（0.05-0.15mm）

检测方法

1.ASTMD6988：非接触式激光测厚法（精度0.25%）
2.ISO4593：机械接触式测厚法（载荷4.9N0.1N）
3.GB/T6672：塑料薄膜厚度测定法（测量头直径60.1mm）
4.JISK7130：双光束β射线穿透法（适用于10-500μm材料）
5.GB/T451.3：纸与纸板厚度测定法（恒定压力100kPa10kPa）

检测设备

1.Mitutoyo543-490B千分尺：分辨率0.1μm，量程0-12.7mm
2.OGPSmartScopeFlash500：激光共聚焦系统（Z轴精度0.8μm）
3.QnessQ10Mpro+：全自动显微测厚仪（最小测量点φ30μm）
4.ElektrophysikMiniTest730：涡流测厚仪（非接触式/0.5%精度）
5.LabthinkCHY-CA：电容式薄膜测厚仪（响应时间＜2s）
6.KeyenceLK-G5000：激光位移传感器（采样频率392kHz）
7.AMETEKCTSXRS-3：X射线荧光测厚系统（元素分析+厚度测量）
8.ZwickRoellZ2.5：材料试验机集成测厚模块（符合ISO527标准）
9.Elcometer456：涂层测厚仪（磁感应/涡流双模式）
10.UeshimaSeisakushoEG-200H：电解铜箔专用测厚仪（温度补偿0.1℃）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

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