硒化银检测

点击：97丨发布时间：2025-05-13 11:50:41丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，硒化银检测

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.纯度分析：Ag₂Se含量≥99.99%，杂质元素（Cu、Fe、Pb）≤10ppm
2.晶体结构表征：晶格常数a=4.330.02，c=7.060.03（六方相）
3.粒径分布测试：D50=0.8-1.2μm（粉末样品），粒度偏差≤5%
4.电学性能测试：载流子浓度(1-5)10⁷cm⁻，迁移率≥150cm/(Vs)
5.热稳定性分析：相变温度2805℃，热膨胀系数(5.20.3)10⁻⁶K⁻

检测范围

1.半导体级硒化银靶材（纯度≥4N）
2.光伏用硒化银纳米粉末（粒径50-200nm）
3.红外光学薄膜材料（厚度100-500nm）
4.热电转换器件用单晶材料（晶体取向误差≤0.5）
5.量子点合成前驱体（Ag/Se摩尔比1.98-2.02）

检测方法

1.X射线衍射分析（ASTME975）：采用θ-2θ扫描法测定晶体结构
2.电感耦合等离子体质谱（GB/T33087-2016）：高分辨率模式测定痕量杂质
3.场发射扫描电镜（ISO16700）：二次电子成像分析表面形貌
4.霍尔效应测试（GB/T43262-2023）：范德堡法测量载流子参数
5.同步热分析（ASTME1131）：10℃/min升温速率测定热特性

检测设备

1.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：配备LynxEye阵列探测器
2.ThermoFisheriCAPRQICP-MS：检出限达0.01ppb
3.HitachiSU8220场发射电镜：分辨率0.8nm@15kV
4.LakeShore8404霍尔测试系统：磁场强度1.5T
5.NetzschSTA449F5同步热分析仪：温度范围RT-1500℃
6.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm
7.Agilent5500原子力显微镜：接触模式表面粗糙度分析
8.PerkinElmerLambda1050紫外分光光度计：光谱范围175-3300nm
9.OxfordInstrumentsX-MaxN能谱仪：元素面分布分析
10.KeysightB1500A半导体参数分析仪：I-V特性曲线测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。