次级电子导电检测

点击:911丨发布时间:2025-04-22 11:04:55丨关键词:CMA/CNAS/ISO资质,中析研究所,次级电子导电检测

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参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

检测项目

1. 二次电子产额(SEY)测定:测量范围0.5-3.0@300eV入射能量

2. 表面电阻率测试:分辨率1×10^3~1×10^16 Ω/sq

3. 能谱特征分析:能量分辨率≤0.5eV@Al Kα源

4. 逸出功测量:精度±0.02eV

5. 电荷衰减特性:时间常数测量范围10^-6~10^3秒

检测范围

1. 半导体材料:GaAs、SiC等化合物半导体基板

2. 绝缘涂层:聚酰亚胺薄膜、氧化铝陶瓷涂层

3. 薄膜材料:ITO导电膜、类金刚石碳膜(DLC)

4. 电子元件封装材料:环氧树脂模塑料(EMC)

5. 真空器件材料:行波管收集极涂层、光电倍增管倍增极

检测方法

ASTM E2108-2016《Standard Test Method for Secondary Electron Yield of Materials》

ISO 21347:2018《Space systems - Material secondary electron emission test》

GB/T 32896-2016《真空电子器件用材料二次电子发射性能测试方法》

GB/T 31838.5-2021《固体绝缘材料介电和电阻特性第5部分:表面电阻率测试》

IEC 61340-2-3:2016《静电学第2-3部分:固体平面材料的表面电阻测量》

检测设备

1. KEITHLEY 6517B静电计:10aA~20mA电流测量

2. Thermo Scientific ESCALAB Xi+ X射线光电子能谱仪

3. SPECS PHOIBOS 150半球形能量分析器

4. Agilent B1500A半导体参数分析仪

5. Hiden Analytical EQS1000二次电子产额测试系统

6. Keysight B2901A精密源表

7. Ulvac PHI 5000 VersaProbe III扫描俄歇微探针

8. Omicron MULTIPROBE UHV表面分析系统

9. Pfeiffer Vacuum HiCube 80 Eco涡轮分子泵机组

10. Janis Research ST-500低温恒温器(77K~500K)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。