耦合器损耗测试

点击:977丨发布时间:2025-02-22 14:58:38丨关键词:CMA/CNAS/ISO资质,中析研究所,耦合器损耗测试

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参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

检测项目

插入损耗(Insertion Loss):0.1-3.0 dB范围测量,精度±0.05 dB

方向性(Directivity):≥50 dB(典型值),频段覆盖0.1-40 GHz

回波损耗(Return Loss):≥15 dB(低频段),≥12 dB(高频段)

隔离度(Isolation):≥30 dB(同频段),误差容限±1.5 dB

频率响应(Frequency Response):±0.3 dB平坦度(1-18 GHz)

检测范围

光纤耦合器:单模/多模光纤适配器、PLC分路器

微波射频耦合器:定向耦合器、混合环耦合器

功率分配器:Wilkinson功分器、微带线耦合器

波导耦合器:矩形波导、同轴-波导转换器

光电集成耦合器:硅基光子芯片、III-V族半导体器件

检测方法

标准类型适用项目技术要求
IEC 61753-1 光纤耦合器插入损耗 温度循环(-40℃~+85℃)下稳定性测试
ASTM D4565 微波器件方向性校准 三端口网络分析法,误差模型修正
GB/T 18311.4 通信设备回波损耗 时域反射法(TDR)与频域分析法结合
ISO/IEC 14763-3 安装耦合器性能验证 偏振相关损耗(PDL)≤0.1 dB

检测设备

矢量网络分析仪(Keysight N5224B)

支持10 MHz至43.5 GHz频段,动态范围120 dB,可完成S参数全频域扫描

光功率计(EXFO PM-1600)

波长范围800-1650 nm,功率测量精度±0.02 dB,支持多通道同步采集

光谱分析仪(Yokogawa AQ6370D)

分辨率带宽0.02 nm,波长精度±0.01 nm,用于WDM耦合器插损谱分析

高低温试验箱(Espec SH-261)

温控范围-70℃~+180℃,支持梯度变化测试(5℃/min)

精密定位系统(Newport M-462-XYZ)

位移精度±0.1 μm,用于波导耦合器对准校准

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。