碳化硅光学脆性测试

点击：912丨发布时间：2026-03-14 12:14:57丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，碳化硅光学脆性测试

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.表面缺陷评估：表面划伤，微裂纹，凹坑缺陷。

2.内部缺陷分析：夹杂物分布，孔隙率，隐裂检测。

3.光学透过性能：透过率测定，散射损耗，吸收损耗。

4.折射特性测定：折射率，双折射，折射均匀性。

5.表面光洁度：表面粗糙度，纹理方向性，光泽稳定性。

6.脆性断裂行为：断裂韧性，裂纹扩展速率，临界应力。

7.硬度与弹性：显微硬度，弹性模量，残余应力。

8.热稳定性：热冲击敏感性，热膨胀系数，热致裂纹。

9.结构完整性：晶粒尺寸，晶界状态，组织均匀性。

10.尺寸与形位：厚度均匀性，平整度，面形偏差。

11.环境适应性：湿热影响，温度循环，光照稳定性。

12.加工损伤评估：切割损伤层，磨抛损伤，边缘崩裂。

检测范围

碳化硅单晶片、碳化硅多晶片、碳化硅光学窗口、碳化硅反射镜基片、碳化硅透光盖板、碳化硅光学基底、碳化硅薄膜、碳化硅复合基材、碳化硅抛光片、碳化硅加工坯料、碳化硅光学组件、碳化硅表面处理件、碳化硅精密器件、碳化硅涂层样品、碳化硅晶圆、碳化硅异形件

检测设备

1.显微成像系统：用于表面缺陷与裂纹形貌观察。

2.干涉测量仪：用于面形与平整度测量。

3.光谱测量仪：用于透过率与吸收损耗测试。

4.散射测量装置：用于散射损耗与表面散射评估。

5.折射测量装置：用于折射率与均匀性测定。

6.显微硬度计：用于硬度与脆性相关参数测定。

7.断裂测试装置：用于断裂韧性与裂纹扩展评估。

8.热循环试验箱：用于热稳定性与热冲击测试。

9.残余应力测试装置：用于应力分布与应力集中评估。

10.表面粗糙度仪：用于表面光洁度量化分析。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。