光谱能谱光谱检测
点击：999丨发布时间：2026-02-28 21:14:49丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，光谱能谱光谱检测
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
1.镀层与涂层分析：镀层厚度测量，镀层元素成分分析，涂层均匀性评估，多层结构界面分析。
2.元素成分定性定量分析：主体材料主量元素测定，微量掺杂元素分析，有害物质限制元素筛查，异物未知成分鉴定。
3.焊接点与焊料分析：焊料合金成分检验，焊接界面金属间化合物分析，焊点空洞与缺陷检测，助焊剂残留物鉴定。
4.金属材料相分析：合金相组成鉴定，金属间化合物识别，元素偏析与分布表征。
5.无机非金属材料分析：陶瓷基体成分分析，玻璃材料氧化物组成测定，矿物填料鉴定。
6.污染物与失效分析：表面污染颗粒物元素鉴定，腐蚀产物成分分析，迁移离子检测，失效点微观成分异常定位。
7.半导体材料分析：外延层厚度与成分分析，掺杂浓度分布剖面分析，晶圆表面金属污染检测。
8.电子浆料与导电材料分析：导电相颗粒成分分析，有机载剂与添加剂鉴定，烧结后成分与形貌关联分析。
9.封装材料分析：塑封料无机填料成分鉴定，环氧树脂体系元素分布，导热界面材料成分分析。
10.微观结构与形貌成分关联分析：特定微观形貌区域的点分析，元素沿特定路径的线扫描分析，元素在选定区域的面分布成像。
检测范围
集成电路芯片、各类半导体器件、片式电阻电容电感、连接器与接插件、印刷电路板、焊锡球与焊膏、引线框架、金属镀层试样、陶瓷基板、玻璃绝缘子、磁性材料元件、电子用贵金属材料、键合丝、导热硅脂、塑封环氧模塑料、晶圆片、太阳能电池片、发光二极管芯片、传感器敏感元件、电接触材料
检测设备
1. X射线荧光光谱仪：用于对样品进行快速无损的元素成分定性与定量分析，尤其适用于镀层厚度测量和RoHS等有害元素筛查；具备分析范围广、前处理简单等特点。
2. 扫描电子显微镜：提供样品表面高分辨率的微观形貌图像；为能谱分析提供精确的观测和定位平台。
3. 能谱仪：与扫描电子显微镜联用，实现对微区范围内元素的定性和半定量分析；可进行点、线、面扫描分析元素分布。
4. 波长色散型光谱仪：用于对样品中元素进行高精度的定量分析；具有更高的分辨率和更低的检出限，适合精确的主次成分分析。
5. 激光诱导击穿光谱仪：通过激光烧蚀产生等离子体并进行光谱分析，实现对固体材料的快速原位成分分析；适用于在线或现场检测。
6. 辉光放电光谱仪：用于材料表面至深层的元素成分深度剖面分析；可逐层剥离并分析镀层、渗层等梯度材料的成分分布。
7. 电感耦合等离子体发射光谱仪：对溶液样品中的多种元素进行高灵敏度、高精度的同时定量分析；适用于痕量及超痕量元素检测。
8. 显微红外光谱仪：通过分析分子化学键对红外光的吸收，鉴定微区范围内的有机化合物、高分子材料及部分无机物；可用于污染物有机成分分析。
9. 拉曼光谱仪：基于拉曼散射效应，提供分子振动、转动信息，用于材料相结构、结晶度、应力及化学成键状态的无损微区分析。
10. X射线光电子能谱仪：用于分析材料表面极薄层的元素组成、化学态及电子态；是研究表面化学反应、吸附、污染及界面特性的重要工具。
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
前沿项目