组件含量试验

点击：952丨发布时间：2026-03-11 09:17:37丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，组件含量试验

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.金属元素含量：铜含量，锡含量，银含量。

2.贵金属比例：金含量，钯含量，铂含量。

3.合金成分比例：锡铅比例，铜锌比例，镍铁比例。

4.镀层厚度成分：镀锡成分，镀镍成分，镀金成分。

5.焊料组成：锡含量，银含量，铜含量。

6.阻焊材料含量：树脂含量，填料含量，添加剂含量。

7.基材树脂比例：环氧含量，固化剂含量，稀释剂含量。

8.填充材料含量：玻纤含量，无机填料含量，矿物粉含量。

9.端子材料成分：铜含量，镍含量，铁含量。

10.磁性材料含量：铁含量，钴含量，镍含量。

11.导电胶组成：银粉含量，树脂含量，溶剂含量。

12.封装材料组成：硅含量，碳含量，氧含量。

检测范围

电阻器、陶瓷电容器、铝电解电容器、片式电感、磁珠、晶体振荡器、集成电路封装、印制电路板、连接器、继电器、开关、传感器、变压器、二极管、三极管、焊锡丝、焊膏、导电胶、阻焊油墨、封装树脂、端子材料

检测设备

1.元素分析仪：用于测定材料中各元素的含量与分布。

2.光谱分析仪：用于金属与合金成分的定性定量分析。

3.热重分析仪：用于评估材料成分随温度变化的含量变化。

4.差示扫描量热仪：用于判定树脂与固化体系的组分比例。

5.红外光谱仪：用于有机材料官能团与组成分析。

6.气相色谱仪：用于挥发性组分含量与分布测定。

7.液相色谱仪：用于非挥发性组分的含量测定与分离。

8.扫描电子显微镜：用于微区成分观察与形貌分析。

9.能谱分析系统：用于微区元素含量分析与映射。

10.密度测定仪：用于材料密度与配比间接评估。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。