粒度测试_第三方检测机构-中化所检测中心

点击：997丨发布时间：2025-06-30 19:50:53丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，粒度测试_第三方检测机构-中化所检测中心

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

粒度分布检测：

• 粒径范围测定：D10、D50、D90（参照ISO 13320）
• 粒度分布曲线：累积分布图、频率分布图
• 跨度计算：（D90-D10）/D50

平均粒径分析：

• 体积平均粒径：D[4,3]
• 表面积平均粒径：D[3,2]

表面积测定：

• 比表面积：氮气吸附法（BET），测量范围0.01m²/g-2000m²/g
• 孔隙体积：总孔隙率（≤5%）

形状因子评估：

• 圆形度：0.9-1.0范围
• 长宽比：≥1.5
• 表面粗糙度：Ra≤0.05μm

密度测量：

• 真密度：氦比重法，精度±0.01g/cm³
• 堆积密度：自由落体法，松装密度≥0.5g/cm³

流动性测试：

• 休止角：≤30°
• 流速：≥10g/s

沉降速度分析：

• 沉降时间：5min-60min
• 沉降粒径：Stokes直径

光学显微镜观察：

• 颗粒计数：≥1000颗粒/视场
• 尺寸分布：手动测量误差≤2%

电子显微镜分析：

• 纳米级粒径：1nm-100nm
• 表面形貌：高分辨率成像

悬浮稳定性检测：

• Zeta电位：-50mV至+50mV
• 沉降指数：≤0.1/min

检测范围

1. 金属粉末： 涵盖铁基、铜基合金粉体，重点检测粒度均匀性和D50控制

2. 陶瓷原料： 氧化铝、二氧化硅粉体，侧重细度分布和平均粒径分析

3. 制药颗粒： 活性药物成分粉剂，核心检测流动性及D90上限

4. 化妆品粉末： 滑石粉、云母粉，重点评估粒径分布和表面光滑度

5. 土壤和沉积物： 环境样品，侧重沉降分析和有机颗粒占比

6. 纳米材料： 纳米氧化锌、碳纳米管，核心检测纳米级粒径和分散性

7. 聚合物颗粒： 聚乙烯、聚丙烯微粒，重点测试形状因子和堆积密度

8. 颜料和涂料： 钛白粉、染料粉，侧重比表面积和着色均匀性

9. 食品添加剂： 淀粉、乳糖粉，核心检测悬浮稳定性和D10下限

10. 环境颗粒物： PM2.5、粉尘样品，重点分析粒径分布和沉降速率

检测方法

国际标准：

• ISO 13320:2009 激光衍射法粒度分析
• ASTM B822-20 金属粉末粒度分布测试
• ISO 9276-2:2014 粒度数据表示
• ISO 22412:2017 动态光散射法纳米颗粒分析
• ASTM E2864-18 比表面积测定

国家标准：

• GB/T 19077-2016 粒度分布 激光衍射法
• GB/T 1480-2012 金属粉末粒度分布的测定 筛分法
• GB/T 19587-2017 气体吸附BET法比表面积测定
• GB/T 6003.1-2012 筛分试验方法
• GB/T 23451-2020 纳米材料粒径分布测定

（方法差异说明：国际标准如ISO 13320更强调激光衍射的通用性，而GB/T 19077增加了本地化采样要求；ASTM B822适用于金属粉，GB/T 1480则优化筛分法细节）

检测设备

1. 激光粒度仪： Malvern Mastersizer 3000（测量范围0.01μm-3500μm）

2. 动态光散射仪： Brookhaven ZetaPALS（粒径范围0.3nm-10μm）

3. 沉降粒度分析仪： Micromeritics Sedigraph 5100（测量范围0.1μm-300μm）

4. 比表面积分析仪： Quantachrome NovaTouch（比表面积范围0.001m²/g-2000m²/g）

5. 光学显微镜： Olympus BX53（放大倍数50x-1000x）

6. 扫描电子显微镜： JEOL JSM-7800F（分辨率0.8nm）

7. 透射电子显微镜： FEI Talos F200X（放大倍数50kx-1Mx）

8. 图像分析系统： Malvern Morphologi 4（颗粒尺寸范围0.5μm-3000μm）

9. 真密度仪： Micromeritics AccuPyc II 1340（精度±0.03%）

10. 堆积密度测试仪： Copley TAPDENSER（漏斗孔径4mm）

11. 休止角测量装置： ERWEKA GT（角度分辨率0.1°）

12. 粒度筛分机： Retsch AS 200（筛网尺寸20μm-20mm）

13. Zeta电位分析仪： Malvern Zetasizer Nano（测量范围-150mV至+150mV）

14. 沉降天平： Sartorius CPA225D（分辨率0.01mg）

15. 激光衍射样品分散器： Malvern Hydro MV（流速0-250mL/min）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。