碳化硅尺寸试验

点击：926丨发布时间：2026-03-11 13:00:13丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，碳化硅尺寸试验

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.外形尺寸：长度测量，宽度测量，厚度测量。

2.直径尺寸：外径测量，内径测量，孔径测量。

3.高度尺寸：台阶高度，凸台高度，槽深测量。

4.角度尺寸：倒角角度，斜面角度，锥度角度。

5.圆度偏差：外圆圆度，内圆圆度，孔圆度。

6.平面度：端面平面度，基准面平面度，工作面平面度。

7.直线度：轴线直线度，边缘直线度，槽线直线度。

8.垂直度：端面对轴线垂直度，基准面对侧面垂直度，孔轴垂直度。

9.平行度：两端面平行度，基准面与侧面平行度，槽底平行度。

10.同轴度：孔轴同轴度，外圆与内孔同轴度，台阶同轴度。

11.对称度：孔系对称度，外形对称度，槽系对称度。

12.位置度：孔位位置度，槽位位置度，台阶位置度。

检测范围

碳化硅晶圆、碳化硅衬底、碳化硅片材、碳化硅陶瓷板、碳化硅陶瓷棒、碳化硅陶瓷管、碳化硅密封环、碳化硅轴承环、碳化硅喷嘴、碳化硅阀座、碳化硅坩埚、碳化硅基板、碳化硅散热基片、碳化硅切割片、碳化硅磨料片

检测设备

1.游标卡尺：用于外形长度与宽度的基础测量。

2.千分尺：用于厚度与外径的高精度测量。

3.高度尺：用于台阶高度与槽深测量。

4.内径量仪：用于内孔直径与孔径测量。

5.圆度仪：用于评估外圆与内孔的圆度偏差。

6.平面度测量仪：用于端面与基准面的平面度检测。

7.直线度测量仪：用于边缘与轴线直线度评估。

8.角度测量仪：用于倒角与斜面角度测量。

9.三坐标测量仪：用于位置度与形位公差综合测量。

10.光学测量仪：用于小尺寸外形与孔位的非接触测量。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。