模块残留试验

点击：943丨发布时间：2026-03-07 07:54:56丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，模块残留试验

上一篇：滴定钢铁试验丨下一篇：返回列表

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.离子残留检测：氯化物含量，溴化物含量，氟化物含量，硫酸根含量，硝酸根含量，钠离子含量，钾离子含量。

2.有机残留检测：松香树脂残留量，有机酸活性剂残留量，焊接助焊剂残留量，塑化剂残留量，矿物油残留量。

3.表面污染物分析：表面离子污染当量，非挥发性残留物含量，白色残留物成分分析，碳氢化合物污染度。

4.洁净度评估：萃取液电阻率测试，离子色谱法全面分析，目检与放大镜检查。

5.特定元素分析：铅含量，镉含量，汞含量，六价铬含量，多溴联苯含量，多溴二苯醚含量。

6.可焊性影响测试：残留物对焊料润湿性影响评估，焊点可靠性初步评估。

7.腐蚀性评估：残留物潮敏性测试，电化学迁移倾向测试，铜镜腐蚀试验。

8.助焊剂残留特性：树脂型残留物检测，水溶性残留物检测，免清洗型残留物检测。

9.清洗效果验证：清洗工艺后离子残留对比，有机污染物去除率验证。

10.可靠性关联测试：高温高湿环境下的绝缘电阻测试，带电温湿偏压测试前后的性能对比。

检测范围

印刷电路板组装件、陶瓷电路基板、芯片电阻、芯片电容、球栅阵列封装模块、四方扁平封装模块、集成电路、发光二极管模组、电源管理模块、传感器模组、柔性印刷电路、半导体晶圆加工后部件、连接器端子组件、汽车电子控制单元板、通信设备射频模块、内存条模组、固态硬盘控制板、工业控制主板、消费电子主板、可穿戴设备核心板

检测设备

1.离子色谱仪：用于精确分离和定量检测萃取液中的多种阴离子与阳离子残留含量；具备高灵敏度与低检测限。

2.气相色谱质谱联用仪：用于定性及定量分析模块表面挥发性与半挥发性有机污染物；可进行复杂有机物谱库检索与结构鉴定。

3.高效液相色谱仪：适用于分析不易汽化或热稳定性差的高沸点有机残留物；如某些高分子型助焊剂成分。

4.超纯水萃取系统：用于在 controlled 条件下对检测样品进行加热浸泡或喷淋萃取，将表面污染物溶解于萃取液中；配备恒温与流量控制。

5.电阻率测试仪：用于快速测定样品萃取液的电阻率值，从而评估其总离子污染当量水平；操作简便，常用于产线监控。

6.扫描电子显微镜及能谱仪：用于对微小残留物区域进行超高倍率形貌观察，并结合能谱进行微区元素成分定性及半定量分析。

7.红外光谱仪：通过特征吸收峰对未知有机残留物进行官能团鉴定和种类初步判断；常用于快速筛查与比对。

8.热重分析仪：通过测量样品在程序控温下的质量变化，分析残留物的挥发温度、分解温度及大致含量。

9.紫外可见分光光度计：可用于特定离子（如铜离子）的比色法含量测定，或检测清洗剂等液体的纯度。

10.环境测试箱：提供稳定的高温高湿、温湿循环等测试环境，用于考核残留物在特定应力下对模块可靠性的影响。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。