点击:925丨发布时间:2025-06-06 20:16:56丨关键词:CMA/CNAS/ISO资质,中析研究所,锗粉检测
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
化学成分检测:
1.高纯度锗粉:用于半导体器件制造,检测重点锗含量≥99.999%和超低杂质元素(Fe≤0.1ppm)
2.冶金级锗粉:用于合金添加剂,检测重点杂质去除(Cu≤10ppm)和粒度均匀性(D50=50-100μm)
3.光学级锗粉:用于红外光学透镜,检测重点纯度≥99.99%和光学透过率(≥90%at10μm)
4.医药级锗粉:用于生物医学应用,检测重点生物安全性(无毒性残留)和水分控制(≤0.05%)
5.纳米锗粉:用于纳米复合材料,检测重点粒径控制(D50=10-100nm)和表面改性效果
6.回收锗粉:来自电子废弃物再生,检测重点杂质再处理(总杂质≤200ppm)和放射性水平(U≤0.05Bq/g)
7.掺杂锗粉:用于电子掺杂工艺,检测重点掺杂元素均匀性(B或P含量偏差±0.1%)和电学性能
8.涂层锗粉:用于防护涂层材料,检测重点涂层厚度均匀性(±0.1μm)和附着力(≥5MPa)
9.粉末冶金用锗粉:用于烧结成型,检测重点流动性(流动指数≥60)和压实密度(≥2.0g/cm³)
10.电子封装用锗粉:用于热界面材料,检测重点热导率(≥50W/mK)和颗粒度分布(Span<1.5)
国际标准:
1.电感耦合等离子体质谱仪:ThermoFisheriCAPRQ(检测限0.01ppb,质量范围5-270amu)
2.激光粒度分析仪:MalvernMastersizer3000(粒径范围0.01-3500μm,精度±1%)
3.扫描电子显微镜:HitachiSU8010(分辨率1.0nm,加速电压0.5-30kV)
4.X射线衍射仪:BrukerD8Advance(角度精度0.001°,扫描范围5-90°2θ)
5.原子吸收光谱仪:PerkinElmerPinAAcle900T(检测限0.1ppm,波长范围190-900nm)
6.卡尔费休水分测定仪:MettlerToledoHX204(精度0.001%,滴定范围0.001-200mg)
7.比表面积分析仪:MicromeriticsASAP2460(比表面积范围0.01-2000m²/g,孔径分析0.35-500nm)
8.电阻率测试仪:Keithley2450(电阻范围0.1μΩ·cm-1GΩ·cm,电流源±1A)
9.热重分析仪:TAInstrumentsTGA550(温度范围室温-1000°C,精度±0.1°C)
10.紫外可见分光光度计:ShimadzuUV-2600(波长范围190-900nm,带宽0.1nm)
11.放射性检测仪:CanberraInspector1000(灵敏度0.01Bq,能量范围20keV-3MeV)
12.密度计:MettlerToledoXS204(密度范围0.001-3.000g/cm³,精度±0.0001g/cm³)
13.流动测试仪:HosokawaPowderTesterPT-X(流动性指数范围0-100,倾角30-90°)
14.密封性测试仪:LabthinkMFY-01(泄漏率检测范围0.001-10mL/min,压力0-50kPa)
15.热导率仪:NetzschLFA467(热导率范围0.1-2000W/mK,温度
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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