石墨块粒度分布检测

点击:91丨发布时间:2025-06-23 17:17:23丨关键词:CMA/CNAS/ISO资质,中析研究所,石墨块粒度分布检测

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参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

检测项目

粒度特征分析:

  • 平均粒径:D50中值粒径(μm),参照ISO13320
  • 粒度分布宽度:Span值计算((D90-D10)/D50)
  • 累积分布:D10、D90累积粒径(μm,偏差±2%)
物理性能检测:
  • 堆积密度:松装密度≥0.5g/cm³
  • 比表面积:BET法测定(m²/g,精度0.01m²/g)
  • 流动性:霍尔流速计测试(s/50g≤30)
化学成分分析:
  • 碳含量:总碳≥99.5%(wt%)
  • 灰分:残留量≤0.2%(参照GB/T3521)
  • 挥发分:高温失重≤0.5%
颗粒形状评估:
  • 球形度:图像分析仪测定(球形因子≥0.7)
  • 长宽比:平均值≤2.0
粒度区间分布:
  • 细粉含量:粒径<10μm占比≤5%
  • 粗颗粒比例:粒径>100μm占比≥10%
均匀性检测:
  • 分布均匀系数:变异系数CV≤10%
  • 异常颗粒识别:最大粒径≤500μm
表面特性:
  • 孔隙率:压汞法测定(%孔隙,范围5-20%)
  • 表面粗糙度:轮廓仪测量(Ra值≤1μm)
力学性能:
  • 抗压强度:≥20MPa
  • 硬度:莫氏硬度≥1
热学性能:
  • 热导率:激光闪射法(W/m·K≥100)
  • 热膨胀系数:≤5×10⁻⁶/K
电学性能:
  • 电阻率:四探针法测定(μΩ·m≤50)
  • 电导率:≥1000S/m

检测范围

1.天然鳞片石墨块:检测重点为粒度均匀性及鳞片尺寸分布,确保杂质含量低。

2.人造石墨块:侧重高纯度粒度分布优化,用于电极材料一致性控制。

3.膨胀石墨块:关注粒度膨胀后分布变化,评估比表面积和孔隙结构。

4.高纯石墨块:检测重心在碳含量验证和粒度分布窄带控制。

5.核级石墨块:重点为放射性容忍粒度分布,确保热稳定性指标。

6.润滑用石墨块:检测流动性参数和细粉分布,优化摩擦性能。

7.电池负极石墨块:侧重粒度分布电导率关联分析,控制D50值精度。

8.耐火材料石墨块:检测堆积密度和粗颗粒比例,提升耐高温性能。

9.密封石墨块:重点关注孔隙率均匀性和力学强度匹配。

10.复合材料石墨块:检测混合粒度分布行为,评估界面结合强度。

检测方法

国际标准:

  • ISO13320:2020粒度分析激光衍射法
  • ISO9276-2:2014粒度分析结果表示第二部分:计算粒度分布参数
  • ASTMB822-20金属粉末粒度分布标准测试方法(适用于石墨)
  • ASTMD7928-21用激光衍射测定粒状材料粒度分布的标准试验方法
国家标准:
  • GB/T19077-2016粒度分析激光衍射法
  • GB/T14634-2022粉末振实密度测定通用方法
  • GB/T3521-2020石墨化学分析方法
  • GB/T5162-2021金属粉末振实密度的测定
国际标准ISO13320强调湿法分散技术,而GB/T19077允许干法测试,导致样品制备差异;ASTMD7928采用特定光学模型,GB等效标准聚焦仪器校准规程;ISO9276-2规定分布参数计算方式,GB标准增加异常数据处理要求。

检测设备

1.激光粒度分析仪:Mastersizer3000型(测量范围0.01-3500μm,精度±1%)

2.筛分机:Ro-TapRX-29型(筛网孔径1-5000μm,振动频率290rpm)

3.图像分析系统:Morphologi4型(分辨率0.5μm,颗粒计数≥1000个/秒)

4.比表面积分析仪:TriStarIIPlus型(测量范围0.01-1000m²/g,N2吸附法)

5.堆积密度测试仪:BT-1000型(容量1000ml,振实次数300次)

6.电导率测试仪:34461A型(电阻范围0.01Ω-100MΩ,精度0.05%)

7.热导率测定仪:LFA467型(温度范围-100-500°C,精度±3%)

8.抗压强度试验机:Instron3369型(载荷范围0.5-50kN,速度控制0.01-500mm/min)

9.莫氏硬度计:标准硬度测试套装(标度1-10级,载荷500g)

10.灰分测定炉:MuffleKSL-1700X型(温度范围室温-1700°C,控温精度±1°C)

11.挥发分分析仪:TGA-8000型(失重测量精度0.01mg,升温率10°C/min)

12.压汞孔隙仪:AutoPoreV型(孔径范围3nm-1000μm,压力0-60000psi)

13.轮廓仪:DektakXT型(垂直分辨率0.01nm,扫描长度50mm)

14.霍尔流速计:BFM-934型(漏斗孔径2.5mm,计时精度0.1s)

15.四探针电阻仪:RM3000型(电流范围0.1μA-100mA,电压分辨率0.1mV)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。