X射线衍射(XRD)物相检测

点击：92丨发布时间：2025-06-15 12:16:34丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，X射线衍射(XRD)物相检测

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

物相鉴定：

• 物相识别：JCPDSPDF数据库匹配度≥95%（参照ICDD标准）
• 多相定量分析：相对精度±2%，相含量偏差≤0.5wt%

• 谢勒公式计算：尺寸范围5-1000nm，半峰宽误差±0.01°
• 微应变评估：应变值精度±0.0001，参照ASTME1426

• 非晶含量计算：ISO16258标准，结晶度偏差±1%
• 衍射峰尖锐度：半峰宽≤0.1°，晶格完善度评级

• 表面应力测量：精度±50MPa，深度分辨率1μm
• 应力梯度剖面：层深可达100μm，角度步进0.01°

• 极图分析：取向分布函数(ODF)计算，角度偏差≤1°
• 织构系数：织构强度≥0.8，参照ISO24173

• 布拉格角测量：晶格参数精度±0.001Å
• 晶胞体积：相对误差±0.1%，标准d间距匹配

• 原位高温分析：温度范围RT-1500℃，相变点精度±5℃
• 动力学研究：时间分辨率0.1s，相含量变化追踪

• 位错密度评估：精度±10^6/cm²，峰形拟合方法
• 外延层质量：晶格失配度≤0.01%，半峰宽标准

• 掠入射XRD：厚度范围10-1000nm，精度±2nm
• 界面分析：界面粗糙度≤0.5nm，角度扫描模式

• Rietveld精修：拟合优度Rwp≤10%
• 峰面积积分：强度重复性CV≤0.5%，背景扣除标准

检测范围

1.金属合金：涵盖铝合金、钢等，重点检测热处理后相组成变化和残余应力分布

2.陶瓷材料：包括氧化物陶瓷和碳化物，侧重晶界结构和相变温度影响下的物相稳定性

3.聚合物材料：针对半结晶聚合物，重点评估结晶度百分比和非晶区含量对性能的影响

4.矿物地质样品：适用于岩石和矿石，检测重点为矿物相鉴定和晶粒尺寸分布的地质意义

5.薄膜涂层：覆盖纳米薄膜和功能涂层，关注厚度、晶格应变和界面缺陷的表征

6.纳米颗粒：针对金属或氧化物纳米颗粒，重点分析尺寸依赖性物相和表面效应

7.药品晶体：适用于药物多晶型，检测重点为晶型鉴定和结晶度对溶解性的控制

8.复合材料：包括陶瓷基复合材料，侧重界面反应层物相和残余应力对韧性的影响

9.半导体材料：涵盖硅基和III-V族半导体，关注外延层质量和晶格缺陷的相分析

10.电池电极材料：适用于锂离子电池，重点检测充放电循环中的相变行为和晶粒演化

检测方法

国际标准：

• ASTME915残余应力X射线衍射测量方法标准
• ISO16258结晶度测定X射线衍射指南
• ISO24173材料织构分析X射线衍射标准

• GB/T23365X射线衍射分析方法通则
• GB/T30704金属材料X射线衍射物相定量分析
• GB/T24598晶体结构X射线衍射测定方法

检测设备

1.X射线衍射仪：RigakuSmartLab型（2θ范围-10°至140°，分辨率0.0001°）

2.高温原位附件：AntonPaarHTK1200N型（温度范围RT-1600℃，控温精度±1℃）

3.二维探测器系统：DJianCeRISPILATUS3R1M型（像素尺寸172μm，帧速50Hz）

4.掠入射衍射装置：BrukerD8ADVANCE型（入射角范围0.1°-5°，深度分辨率0.5nm）

5.微区XRD附件：MalvernPanalyticalEmpyrean型（光束尺寸10μm，定位精度±1μm）

6.应力分析模块：ProtoXRD型（应力测量精度±30MPa，ψ角范围±45°）

7.自动样品台：Huber515型（平移范围100mm×100mm，重复定位±0.005mm）

8.单色器系统：OxfordDiffractionXcalibur型（单色化精度λ偏差≤0.0001Å）

9.低温附件套装：JanisST-500型（温度范围80K-500K，冷却速率10K/min）

10.快速扫描探测器：BrukerVANTEC-500型（采集速度1000帧/秒，动态范围24-bit）

11.高分辨率光学系统：PanalyticalX'PertPRO型（光学聚焦精度0.001°，发散角≤0.01°）

12.真空腔体组件：SPECSGmbHUHV型（真空度≤10^-7mbar，样品环境控制）

13.数据采集软件：MDIJade11型（数据处理速度实时，拟合算法Rietveld优化）

14.多轴测角仪：Huber424型（角度范围360°×360°，步进精度±0.0005°）

15.能量色散附件：AmptekXR-100CR型（能量分辨率130eV，元素分辨能力）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。