钼矿石检测
点击：91丨发布时间：2025-06-04 16:49:22丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，钼矿石检测
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
钼含量测定：检测范围0.01%-50%，精度±0.1%
硫含量测定：检测范围0.01%-10%，精度±0.05%
铁含量测定：检测范围0.1%-30%，精度±0.2%
铜含量测定：检测范围0.001%-5%，精度±0.01%
硅含量测定：检测范围0.1%-20%，精度±0.1%
砷含量测定：检测范围0.0001%-0.1%，精度±0.00005%
铅含量测定：检测范围0.0001%-0.5%，精度±0.0001%
水分含量测定：检测范围0%-10%，精度±0.1%
粒度分布分析：检测范围0.1-1000μm，精度±1μm
密度测定：检测范围1.0-5.0 g/cm³，精度±0.01 g/cm³
矿物相分析：辉钼矿、钼钙矿等相含量定量
烧失量测定：检测范围0%-15%，精度±0.1%
氧化钙含量测定：检测范围0.1%-20%，精度±0.05%
磷含量测定：检测范围0.001%-1%，精度±0.0005%
锌含量测定：检测范围0.001%-3%，精度±0.001%
硬度测试：莫氏硬度范围1-10，精度±0.5
检测范围
辉钼矿矿石
钼精矿
钼矿石原矿
钼尾矿
钼矿石粉末
钼合金矿石
含钼多金属矿
钼焙砂
钼酸铵原料矿
钼选矿中间产品
进口钼矿石
低品位钼矿石
高品位钼矿石
钼矿石冶炼渣
钼矿石浮选精矿
钼矿石地质勘探样
钼矿石工业废料
钼矿石贸易批样
检测方法
X射线荧光光谱法：依据ISO 9516-1进行多元素定量分析
原子吸收光谱法：遵循GB/T 3884.1测定钼及金属元素含量
滴定法：采用ASTM E395测定硫及硫酸根离子
重量法：依据GB/T 6730.5测定硅及二氧化硅含量
电感耦合等离子体发射光谱法：遵循ISO 11885测定痕量元素
激光粒度分析法：采用GB/T 19077进行粒度分布评估
X射线衍射法：依据ASTM E975鉴定矿物相组成
卡尔费休法：遵循GB/T 6283测定水分含量
比色法：采用ASTM D1688测定砷及重金属杂质
密度瓶法：依据GB/T 5163测定矿石密度
火试金法：遵循GB/T 3884.3测定贵金属伴生元素
离子色谱法：依据ISO 14911测定阴离子含量
热重分析法：采用ASTM E1131测定烧失量及挥发分
筛分法：遵循GB/T 6003.1进行粗粒度分布测试
磁选分离法：依据GB/T 6730.8测定磁性矿物含量
紫外可见分光光度法：采用GB/T 223.3测定磷及非金属元素
检测设备
波长色散X射线荧光光谱仪 Model WD-XRF-2000：元素定量分析，检测范围Na-U
原子吸收光谱仪 Model AAS-5000：金属元素测定，精度ppb级
电感耦合等离子体发射光谱仪 Model ICP-OES-800：多元素同时分析，检出限0.01ppm
激光粒度分析仪 Model LSA-300：粒度分布测试，范围0.01-2000μm
X射线衍射仪 Model XRD-6000：矿物相鉴定，角度范围5-80°
卡尔费休水分测定仪 Model KF-100：水分检测，精度0.001%
密度计 Model Densimeter-50：密度测量，范围0-10 g/cm³
紫外可见分光光度计 Model UV-Vis-700：比色分析，波长范围190-1100nm
自动滴定仪 Model Titrator-400：滴定精度±0.01mL
筛分分析仪 Model Sieve-100：粒度筛分，筛孔尺寸0.045-100mm
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
前沿项目