扫描法检测

点击：92丨发布时间：2025-05-26 11:47:09丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，扫描法检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.表面粗糙度扫描：Ra0.05-6.3μm，Rz0.4-25μm
2.内部孔隙率检测：孔隙直径≥10μm，密度偏差≤0.5%
3.涂层厚度测量：分辨率0.1μm，量程5-500μm
4.焊接缺陷识别：裂纹长度≥50μm，气孔直径≥30μm
5.材料成分分布：元素含量偏差≤0.01wt%

检测范围

1.金属材料：铝合金/钛合金结构件
2.高分子材料：工程塑料注塑件
3.电子元件：PCB基板/芯片封装
4.陶瓷材料：氧化锆/碳化硅烧结体
5.复合材料：碳纤维增强聚合物(CFRP)

检测方法

1.X射线断层扫描：ASTME1441-19/GB/T35389-2017
2.激光共聚焦扫描：ISO25178-2:2022/GB/T34879-2017
3.超声相控阵扫描：ASMEBPVCVArticle4/GB/T39240-2020
4.涡流阵列扫描：ISO15549:2019/GB/T38894-2020
5.工业CT扫描：ASTME1570-11(2021)/GB/T26645.1-2021

检测设备

1.OlympusOmniScanX3：64晶片相控阵超声系统
2.ZeissMETROTOM1500：微焦点X射线计算机断层扫描仪
3.KeyenceVR-6000：三维激光共聚焦显微镜（12001200mm扫描范围）
4.GEPhoenixv|tome|xL450：纳米焦点CT系统（分辨率0.5μm）
5.EddyfiLyftPro：多频涡流阵列检测仪（频率范围10Hz-10MHz）
6.BrukerContourGT-X8：白光干涉三维形貌仪（垂直分辨率0.01nm）
7.NikonXTH225：450kV高能X射线工业CT系统
8.OLYMPUSEPOCH650：数字超声探伤仪（采样率125MHz）
9.ZEISSAxioCSM700：共聚焦拉曼光谱成像系统
10.ShimadzuSMX-225CT：微焦点X射线透视装置（4K像素探测器）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

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