光轴线污染检测
点击：94丨发布时间：2025-05-20 09:25:44丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，光轴线污染检测
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
1.光轴偏移量：测量实际光轴与理论轴线偏差值（0.05mm以内）
2.线宽均匀性：扫描线宽波动范围（≤1.5μm）
3.表面散射系数：60入射角下散射率（≤0.8%）
4.透射波前畸变：PV值控制（≤λ/4@632.8nm）
5.微裂纹密度：100mm区域内裂纹数量（≤3条）
检测范围
1.光学玻璃基板（K9、熔融石英等）
2.聚合物光学薄膜（PET、PC材质）
3.精密注塑光学透镜（非球面/菲涅尔结构）
4.光纤连接器端面（APC/UPC型）
5.半导体光刻掩模版（铬版/相移版）
检测方法
1.ASTME903-20《材料太阳吸收率测试标准》用于散射系数测定
2.ISO10110-7:2017《光学元件表面缺陷公差》规范裂纹评估
3.GB/T12085.14-2022《光学系统环境试验方法》验证温度形变
4.ISO14997:2012《光学元件表面缺陷检测》指导显微观测
5.GB/T26331-2010《光学薄膜激光损伤阈值测量》评估抗损伤性能
检测设备
1.柯尼卡美能达CS-2000A分光辐射亮度计（0.001cd/m分辨率）
2.ZygoVerifireMST干涉仪（λ/1000波前精度）
3.奥林巴斯OLS5000激光共聚焦显微镜（120nm横向分辨率）
4.TriopticsImageMasterHRMTF测试系统（600lp/mm解析力）
5.BrukerContourGT-X3白光干涉仪（0.1垂直分辨率）
6.Schmidt+HaenschK8自动准直仪（0.1角秒测量精度）
7.AgilentCary7000紫外可见分光光度计（190-3300nm波段）
8.VisionEngineeringMantisElite体视显微镜（20x超长工作距）
9.MitutoyoCMM三次元测量机（0.6+L/400μm精度）
10.HamamatsuC10910D线阵相机（2048像素/12bit灰度）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
前沿项目