关键数据暴露检测

点击：95丨发布时间：2025-05-19 12:18:50丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，关键数据暴露检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.数据残留量检测：固态硬盘/机械硬盘残留数据密度≤0.1bit/cm
2.电磁辐射泄漏强度：30MHz-6GHz频段场强≤40dBμV/m
3.热敏纸显影残留度：显影剂残留量≤0.05mg/cm
4.碎纸颗粒可识别率：交叉切割尺寸≤215mm
5.存储介质消磁强度：交变磁场≥17000Oe

检测范围

1.磁性存储介质：硬盘、磁带、磁条卡
2.半导体存储设备：SSD、U盘、SD卡
3.办公电子设备：复印机、打印机内存模块
4.网络传输设备：路由器交换芯片、光模块
5.纸质敏感文件：合同文书、医疗档案、财务票据

检测方法

1.数据恢复验证：NISTSP800-88Rev.1介质清理验证规程
2.电磁屏蔽测试：MIL-STD-461GRE102辐射发射标准
3.化学残留分析：ISO/IEC27040存储介质安全擦除规范
4.物理破坏评估：GB/T37988-2019信息安全技术数据销毁要求
5.光学识别检验：ASTMF3353-19碎纸颗粒可读性判定方法

检测设备

1.KeysightN9020B频谱分析仪：30Hz-26.5GHz电磁辐射测量
2.AtolaInsightForensicPro：多接口存储介质深度扫描仪
3.DegaussersModelHMF-900S：17000Oe交变消磁系统
4.OlympusDSX1000数码显微镜：1200倍率碎屑形态分析
5.CellebriteUFEDTouch2：移动设备芯片级数据提取装置
6.Agilent7890B气相色谱仪：热敏纸显影剂成分分析
7.Rohde&SchwarzESRP7：EMI测试接收机（20Hz-7GHz）
8.ProtonDataZ-SE系列碎纸机测试套件：颗粒尺寸筛分系统
9.ThermoScientificNicoletiS50FTIR：材料分子结构红外分析
10.DigitalIntelligenceUltraKit：物理介质底层信号采集工具包

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

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