薄膜电路检测

点击：97丨发布时间：2025-05-17 11:00:42丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，薄膜电路检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.导电层方阻测试：测量范围0.1-100Ω/□，精度2%

2.薄膜厚度测定：分辨率0.01μm，适用0.1-50μm厚度层

3.附着力等级评估：划格法1mm1mm网格，胶带剥离强度≥4B级

4.耐温循环测试：-65℃~150℃交变100次后功能验证

5.绝缘耐压测试：DC500V-5kV耐压保持60s无击穿

1.聚酰亚胺基柔性电路板（FPC）

2.氧化铝陶瓷基厚膜电路

3.溅射镀膜金属线路（Au/Ag/Cu）

4.LTCC低温共烧陶瓷多层电路

5.纳米银浆印刷导电线路

ASTMF1896-2018薄膜电阻率四探针测试规范

ISO14695:2003电子薄膜附着力划格试验标准

GB/T13542.3-2020绝缘材料耐电压试验方法

IEC61189-5:2021电子材料热冲击试验规程

GB/T1771-2007色漆和清漆耐中性盐雾性能测定

RTS-9型四探针测试仪：测量方阻精度0.5%

DektakXT台阶仪：垂直分辨率0.1的膜厚测量

Elcometer107划格试验器：符合ISO2409标准刀具组

ESPECT-12高低温箱：温变速率15℃/min的循环系统

Chroma19032耐压测试仪：最大输出AC5kV/DC6kV

HitachiSU8010场发射电镜：5nm分辨率微观形貌分析

BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：薄膜晶体结构表征

Agilent4294A阻抗分析仪：10MHz-110MHz介电性能测试

MitutoyoSJ-410表面粗糙度仪：Ra测量范围0.01-40μm

ThermoFisherESCALABXi+XPS：表面元素化学态分析

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

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