平面粗糙度Sa值检测
点击：99丨发布时间：2025-05-16 10:45:17丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，平面粗糙度Sa值检测
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
1.Sa（算术平均高度）：测量范围0.1-50μm，分辨率0.1nm
2.Sz（最大高度差）：评估峰谷极值差，典型阈值≤100μm
3.Sq（均方根粗糙度）：表征表面波动强度，精度2%
4.Sdr（界面扩展率）：分析表面复杂程度，基准值0-150%
5.Sal（自相关长度）：研究纹理方向性特征，量程0.1-10mm
检测范围
1.金属材料：精密机械部件（轴承/导轨）、航空航天构件
2.陶瓷基材：半导体晶圆、光学镜片基底
3.高分子材料：医用植入体表面、密封件接触面
4.光学元件：滤光片镀膜层、激光反射镜
5.复合材料：碳纤维增强基板、陶瓷涂层表面
检测方法
1.ISO25178-2:2012非接触式光学三维表面测量规范
2.ASTMD7127-17触针式表面粗糙度测试标准
3.GB/T35153-2017激光共聚焦显微测量方法
4.ISO4287:1997接触式轮廓仪评定规则
5.GB/T10610-2009表面粗糙度比较样块校准规程
检测设备
1.BrukerContourGT-X8：白光干涉三维轮廓仪，垂直分辨率0.1nm
2.MitutoyoSurftestSJ-410：接触式粗糙度仪，行程长度350mm
3.ZeSmartLSM900：激光共聚焦显微镜，Z轴重复性5nm
4.AliconaInfiniteFocusG6：焦点变化三维测量系统，横向分辨率0.5μm
5.TaylorHobsonPGI3D：相移干涉轮廓仪，测量速度100mm/s
6.KeyenceVK-X3000：激光显微系统，最大倍率15000
7.Hommel-EtamicT8000：多功能粗糙度测试平台，符合ISO4288标准
8.NanoveaST400：非接触式3D表面分析仪，Z轴量程100μm
9.MarSurfLD260：大行程测量系统，最大取样长度80mm
10.SensofarSneox：多技术集成光学轮廓仪，支持PSI/VSI模式切换
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
前沿项目