镀膜厚度检测

点击:95丨发布时间:2025-05-14 18:40:03丨关键词:CMA/CNAS/ISO资质,中析研究所,镀膜厚度检测

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参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

检测项目

1.平均厚度测量:0.1-500μm范围精度1%

2.厚度均匀性分析:横向/纵向偏差≤5%

3.膜层附着力测试:划痕法临界载荷≥20N

4.表面硬度检测:维氏硬度HV0.01200-2000

5.耐腐蚀性能评估:盐雾试验48-1000小时

检测范围

1.金属镀层:锌镍合金/硬铬/化学镀镍层

2.光学薄膜:AR减反射膜/IR截止滤光膜

3.半导体薄膜:PVD/CVD沉积功能层

4.防腐涂层:环氧树脂/聚氨酯防护层

5.装饰镀层:真空离子镀/PVD彩色膜层

检测方法

ASTMB568-18X射线荧光测厚法

ISO2177:2016库仑法溶解测厚技术

GB/T4955-2020磁性基体非磁性覆盖层测厚

GB/T4956-2020非磁性基体非导电覆盖层测厚

ISO1463-2021金相显微镜截面测量法

检测设备

1.FischerXDL-BasicX射线荧光测厚仪(0.01-50μm)

2.BrukerDektakXT轮廓仪(1-1mm垂直量程)

3.Olympus38DLPLUS超声波测厚仪(0.15-500mm)

4.ZeissAxioImagerM2m金相显微镜(5000)

5.CSMInstrumentsRevetest划痕测试仪(0.01-200N)

6.Elcometer456涂层测厚仪(磁感应/涡流双原理)

7.ThermoScientificK-AlphaXPS表面分析系统

8.KeyenceVK-X3000激光共聚焦显微镜(14nm分辨率)

9.Agilent5500AFM原子力显微镜(原子级厚度测量)

10.ZygoNewView9000白光干涉三维形貌仪

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。