偏光反射法检测
点击：97丨发布时间：2025-05-12 22:36:19丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，偏光反射法检测
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
1.薄膜厚度测量（范围：10nm-10μm，精度0.5nm）
2.表面粗糙度分析（Ra值范围：0.1nm-100nm）
3.光学各向异性评估（双折射率Δn：10⁻⁶-10⁻）
4.偏振相关损耗测试（波长范围：400-1600nm）
5.相位延迟量测定（精度：λ/1000@632.8nm）
6.消光比测量（动态范围：10⁻⁶-10）
检测范围
1.光学薄膜（防反射膜/增透膜/分光膜）
2.金属表面处理层（阳极氧化/电镀/真空镀膜）
3.半导体晶圆（硅片/GaAs/InP基板）
4.液晶显示面板（TFT-LCD/OLED偏振片）
5.高分子材料（聚酰亚胺/聚碳酸酯光学级板材）
6.精密光学元件（棱镜/透镜/滤光片）
检测方法
ASTME430-22《高光泽表面镜面反射率标准测试方法》
ISO13696:2022《光学元件总散射光测量方法》
GB/T26323-2010《光学功能薄膜表面光泽度测定方法》
ISO14782:2019《塑料透明材料雾度测定》
GB/T7962.20-2010《无色光学玻璃测试方法第20部分：应力双折射》
ASTMD5767-18《仪器化反射法测定涂层厚度标准》
检测设备
1.J.A.WoollamM-2000UI型宽光谱椭偏仪（波长245-1700nm）
2.ShimadzuISR-2600积分球分光光度计（反射率测量精度0.08%）
3.BrukerContourGT-X3白光干涉仪（垂直分辨率0.1nm）
4.HoribaUVISEL2相位调制型椭偏仪（入射角5-90可调）
5.ZygoNewView9000激光干涉仪（RMS重复性＜0.1nm）
6.AgilentCary7000全能型分光光度计（支持VW/VASE测量模式）
7.OlympusBX53M工业偏振显微镜（配备10~100物镜组）
8.FilmetricsF40薄膜分析系统（快速测量模式＜3s/点）
9.NanometricsAtlas-LE激光椭偏仪（晶圆级全自动测量）
10.Keysight8509C偏振分析仪（波长范围1260-1640nm）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
前沿项目