钨粒检测

点击：98丨发布时间：2025-05-12 19:58:19丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，钨粒检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.钨含量测定：纯度≥99.95%，采用差减法计算杂质总量
2.粒度分布分析：D50值10-150μm范围，跨度系数≤1.2
3.表观密度测试：标准值9.5-12.5g/cm（依据粒度分级）
4.显微硬度检测：HV0.2≥350（载荷200gf保载15s）
5.杂质元素控制：Fe≤50ppm、Ni≤30ppm、Mo≤20ppm

检测范围

1.高纯钨粒（99.95%-99.99%）
2.掺杂型钨合金颗粒（W-Ni-Fe/Cu系）
3.烧结用预合金化钨粉体
4.电子溅射靶材用球形钨粒
5.核工业屏蔽材料用包覆钨粒

检测方法

1.ASTMB777-15：钨基材料化学分析标准规程
2.ISO4497:2020：金属粉末粒度分布的筛分测定法
3.GB/T4324-2020：钨化学分析方法总则
4.GB/T5162-2021：金属粉末振实密度测定
5.ASTME384-22：材料显微硬度测试标准

检测设备

1.ICP-OES光谱仪（ThermoFisheriCAP7400）：多元素同步定量分析
2.激光粒度分析仪（MalvernMastersizer3000）：0.01-3500μm测量范围
3.真密度仪（MicromeriticsAccuPycII1340）：氦气置换法密度测定
4.显微硬度计（WilsonWolpert402MVD）：10gf-1kgf载荷范围
5.X射线荧光光谱仪（BrukerS8TIGER）：无标样快速成分筛查
6.扫描电镜（HitachiSU5000）：颗粒形貌与表面结构表征
7.振实密度仪（HosokawaPT-R）：100-500次/min可调振动频率
8.氧氮氢分析仪（LecoONH836）：ppm级气体元素测定
9.比表面分析仪（QuantachromeNova4200e）：BET法比表面积测试
10.X射线衍射仪（RigakuSmartLab）：物相组成与晶体结构分析

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

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