亮度温度检测

点击：910丨发布时间：2025-05-12 19:06:22丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，亮度温度检测

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.发射率测量：ε=0.1-1.0（0.02）
2.光谱响应范围：3-14μm（0.5μm）
3.温度分辨率：≤0.1℃@30℃
4.空间分辨率：1.5mrad@25mm镜头
5.动态响应时间：≤15ms（90%阶跃）

检测范围

1.金属材料：不锈钢/铝合金/钛合金表面处理层
2.半导体器件：晶圆/芯片封装/功率模块
3.高温陶瓷：氧化铝/氮化硅/碳化硅基材
4.光学薄膜：ITO导电膜/AR增透膜/IR截止膜
5.复合材料：碳纤维增强塑料/陶瓷基复合材料

检测方法

国际标准：ASTME2758-18（红外测温仪校准规范）
ISO18434-1:2008（机器状态监测与诊断）
国内标准：GB/T19870-2018（工业检测型红外热像仪）
GB/T13301-2019（金属材料比辐射率测试方法）
JJG856-2015（工作用辐射温度计检定规程）

检测设备

1.FLIRT860前沿级红外热像仪：640480分辨率，-40~2000℃量程
2.OptrisPI640i高速热像仪：100Hz帧频，7.5-13μm波段
3.KeysightU5856A真彩红外热像仪：3个可调波段，1%测温精度
4.ThermoScientificA40M黑体辐射源：30-500℃温控精度0.03℃
5.LabsphereSSR-ER光谱反射计：2-20μm波段发射率测量
6.HIOFIFTIR7600傅里叶红外光谱仪：4cm⁻分辨率光谱分析
7.Fluke4180精密红外校准仪：15~500℃面源黑体
8.Testo890高端热成像系统：超像素模式达320240
9.NECAvioG120EX防爆型热像仪：ATEX认证防爆结构
10.CISystemsSR5000光谱辐射计：3-14μm宽波段测量

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。