电子亲合势检测

点击：94丨发布时间：2025-04-23 09:49:28丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，电子亲合势检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1. 电离能测定：测量范围0.1-30 eV，精度±0.05 eV

2. 电子结合能分析：分辨率≤0.3 eV，能量范围0-1500 eV

3. 功函数测试：重复性误差±0.02 eV

4. 表面电荷密度：检测限1×10^12 cm^-2

5. 费米能级定位：空间分辨率50 nm

1. 半导体材料：硅基/III-V族化合物晶圆

2. 绝缘材料：陶瓷/高分子聚合物薄膜

3. 金属合金：贵金属催化剂/高温合金

4. 有机化合物：共轭分子/光电材料

5. 纳米材料：碳纳米管/量子点/二维材料

1. ASTM E158-22《光电发射光谱法测定电离能》

2. ISO 18118:2022《表面化学分析-X射线光电子能谱》

3. GB/T 223.72-2020《金属材料功函数测定方法》

4. ISO 21270:2021《表面分析-俄歇电子能谱》

5. GB/T 35031-2018《纳米材料表面电势测试规范》

1. Thermo Scientific ESCALAB Xi+：X射线光电子能谱仪（XPS），配备单色Al Kα源

2. ULVAC-PHI VersaProbe IV：扫描俄歇微探针系统（SAM），空间分辨率8 nm

3. SPECS PHOIBOS 150：高分辨电子能量分析器（HREELS）

4. Agilent 7890B/5977B GC/MSD：气相色谱-质谱联用系统（GC-MS）

5. Keysight B1500A：半导体参数分析仪（SPA），支持IV/CV特性测试

6. Bruker Dimension Icon：原子力显微镜（AFM），Kelvin探针功能模块

7. Omicron EA125 HR：半球形能量分析器（HSA），能量分辨率<0.1 eV

8. JEOL JAMP-9500F：场发射俄歇电子能谱仪（FE-AES）

9. RHK Technology VT-STM：变温扫描隧道显微镜（STM）

10. Park Systems NX20：非接触式表面电势测量系统

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

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