氢硫化铟检测

点击：915丨发布时间：2025-04-19 11:42:38丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，氢硫化铟检测

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1. 纯度测定：采用ICP-OES测定金属杂质含量（Fe≤5ppm, Cu≤3ppm, Zn≤2ppm）

2. 晶体结构分析：XRD测定晶格常数（a=4.25±0.02Å, c=6.82±0.03Å）

3. 表面形貌表征：SEM观测表面粗糙度（Ra≤15nm）

4. 热稳定性测试：TGA测定分解温度（≥420℃@5%质量损失）

5. 电化学性能：霍尔效应仪测量载流子浓度（1×10¹⁷~5×10¹⁸ cm⁻³）

检测范围

1. 薄膜太阳能电池用InHS溅射靶材（厚度50-500nm）

2. 纳米级InHS量子点材料（粒径3-10nm）

3. 单晶InHS衬底材料（直径≥2英寸）

4. InHS/PVP复合光催化材料

5. 掺杂型InHS热电材料（Te/Sb掺杂量0.1-5at%）

检测方法

1. ASTM E975-13 金属材料晶体结构X射线衍射标准

2. ISO 16700:2016 扫描电镜表面形貌分析规范

3. GB/T 19469-2004 热重分析法测定分解温度

4. GB/T 26008-2010 半导体材料载流子浓度测试规程

5. ISO 14707:2015 辉光放电质谱元素分析标准

检测设备

1. Bruker D8 Advance X射线衍射仪（角度精度±0.0001°）

2. Hitachi SU8220场发射扫描电镜（分辨率0.8nm@15kV）

3. PerkinElmer TGA 8000热重分析仪（温度精度±0.1℃）

4. Agilent 720ES电感耦合等离子体发射光谱仪（检出限0.1ppb）

5. Lakeshore 8404霍尔效应测试系统（磁场强度2T）

6. Malvern Zetasizer Nano ZSP纳米粒度分析仪（粒径范围0.3nm-10μm）

7. Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪（能量分辨率0.5eV）

8. Netzsch LFA 467 HyperFlash导热系数测试仪（温度范围-125~1100℃）

9. Keysight B1500A半导体参数分析仪（电流分辨率10fA）

10. Shimadzu UV-3600i Plus紫外可见近红外分光光度计（波长范围185~3300nm）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。