电磁屏蔽膜检测
点击：910丨发布时间：2025-04-14 10:56:17丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，电磁屏蔽膜检测
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
1.屏蔽效能（SE）：频率范围30MHz-18GHz，衰减值≥60dB
2.表面电阻率：测量范围110⁻~110⁶Ω/sq
3.厚度均匀性：公差2μm（基准厚度50-200μm）
4.耐温性：-55℃~150℃循环测试后SE衰减≤5%
5.拉伸强度：≥50MPa（ASTMD638标准）
检测范围
1.金属复合型屏蔽膜（铜/铝箔基材）
2.导电涂层型屏蔽膜（银纳米线/石墨烯涂层）
3.柔性电路板用多层屏蔽膜
4.高频电磁波吸收复合膜
5.纳米磁性材料填充屏蔽膜
检测方法
1.ASTMD4935-18：平面材料屏蔽效能测试
2.IEC62333-2:2006：高频段衰减特性评估
3.GB/T20042.7-2020：导电薄膜电阻率测定
4.ISO6721-1:2019：介电性能温度依赖性分析
5.GB/T1040.3-2006：塑料薄膜拉伸强度测试
检测设备
1.KeysightN5224B矢量网络分析仪：10MHz-43.5GHz频段SE测试
2.Loresta-GPMCP-T610四探针测试仪：表面电阻率测量精度0.5%
3.MitutoyoLSM-902S激光测厚仪：分辨率0.1μm
4.Instron5967万能材料试验机：最大载荷30kN
5.ESPECTAS-112S高低温循环箱：温控精度0.5℃
6.AgilentE4991A阻抗分析仪：1MHz-3GHz介电常数测试
7.OlympusBX53M金相显微镜：5000倍涂层微观结构观测
8.ShimadzuEDX-8000X荧光光谱仪：元素成分定量分析
9.NetzschDMA242E动态热机械分析仪：-170℃~600℃模量测试
10.Rohde&SchwarzTS8991EMI测试系统：CISPR25标准兼容
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
前沿项目