点击:95丨发布时间:2025-04-10 16:49:30丨关键词:CMA/CNAS/ISO资质,中析研究所,定心二极管检测
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.正向压降(VF):测试电流范围0.1A-50A@25℃2℃,阈值偏差≤5%
2.反向击穿电压(VBR):施加反向电压至漏电流达1mA时的临界值,容差3%
3.反向漏电流(IR):在80%VBR条件下测量漏电流值,标准限值≤10μA
4.结电容(Cj):采用1MHz频率下测试电容值,典型范围5pF-200pF
5.热阻值(RθJA):功率循环法测量结到环境热阻,精度要求0.5℃/W
1.半导体材料:硅基(Si)、碳化硅基(SiC)及氮化镓基(GaN)二极管芯片
2.电子元器件:TO-220/TO-247封装功率二极管、SMD贴片二极管
3.汽车电子:车载充电模块用快恢复二极管(FRD)
4.工业电源模块:整流桥堆中的高压二极管组件
5.消费电子:LED驱动电路用肖特基二极管(SBD)
1.正向压降测试:依据GB/T6571-2018《半导体器件分立器件第3部分》第4.2条款
2.反向特性测试:参照IEC60747-1:2022《半导体器件通用规范》第6章要求
3.动态参数测试:采用ASTMF123-2019脉冲测试法评估开关特性
4.热阻测量:执行JESD51-14标准规定的瞬态热测试法
5.可靠性试验:按GB/T4937-2012进行高温反偏(HTRB)1000小时测试
1.KeysightB1505A功率器件分析仪:支持200A/3kV高压大电流测试
2.TektronixDPO7054C示波器:4GHz带宽用于动态特性波形采集
3.Chroma17011反向恢复测试仪:trr测量精度1ns
4.ThermoScientificT3Ster热分析系统:μs级时间分辨率热阻测试
5.ESPECPL-3KFP恒温恒湿箱:温度范围-70℃~+180℃
6.AgilentE4980ALCR表:20Hz至2MHz电容参数测量
7.Fluke1587FC绝缘电阻测试仪:最高1000VDC耐压测试
8.HiokiIM3593化学阻抗分析仪:结电容频率特性分析
9.RaytekMX4红外热像仪:非接触式温度分布监测
10.MTSSANS万能材料试验机:引线键合强度机械测试
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。