硅质脉石检测
点击：97丨发布时间：2025-04-08 15:13:28丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，硅质脉石检测
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
1.二氧化硅含量测定：采用X射线荧光光谱法（XRF），精度0.5%，测量范围40-99.9%
2.矿物组成分析：X射线衍射（XRD）法定量分析石英、长石等矿物相含量
3.粒度分布测试：激光粒度仪测量D10-D90值，粒径范围0.1-3000μm
4.热稳定性评估：热重-差热联用仪（TG-DSC）测定相变温度（20-1500℃）
5.微量元素检测：电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）定量分析Al₂O₃≤3%、Fe₂O₃≤0.5%等杂质
6.孔隙率测定：压汞法测量孔径分布（3nm-1000μm），精度1%
检测范围
1.石英砂原料：铸造用砂、玻璃级石英砂等工业原料
2.陶瓷坯体材料：高岭土复合料、釉料基体等
3.冶金辅料：硅铁合金原料、炼钢造渣剂等
4.玻璃制造原料：平板玻璃、光学玻璃基料
5.耐火材料：硅砖、熔融石英制品等高温材料
6.地质标本：火成岩、变质岩中的石英脉体
检测方法
1.GB/T14506.3-2010《硅酸盐岩石化学分析方法》二氧化硅测定
2.ASTMD934-80(2021)X射线衍射定量相分析标准规程
3.ISO13320:2020《粒度分析-激光衍射法》
4.GB/T17473.6-2008冶金原料化学分析方法ICP-AES法
5.ISO11358-1:2022《塑料热重分析法》热稳定性测试
6.GB/T21650.1-2008《压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布》
检测设备
1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：9kW旋转阳极靶，2θ角范围5-150
2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量精度1%，重复性误差≤0.5%
3.PerkinElmerOptima8300电感耦合等离子体发射光谱仪：检出限0.01ppm
4.NetzschSTA449F5同步热分析仪：最大升温速率50K/min，温度分辨率0.1℃
5.MicromeriticsAutoPoreV9600压汞仪：压力范围0-60000psi
6.BrukerS8TIGERX射线荧光光谱仪：4kWRh靶管，可测元素Na-U
7.FEIQuanta650FEG扫描电镜：分辨率1nm，配备EDAX能谱仪
8.Agilent7900ICP-MS质谱仪：质量数范围2-260amu，检出限ppt级
9.ShimadzuXRD-7000衍射仪：Cu靶Kα辐射（λ=1.54056）
10.MettlerToledoTGA/DSC3+热分析系统：称量精度0.01mg
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
前沿项目