光栅光谱学检测
点击：911丨发布时间：2025-04-07 11:12:17丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，光栅光谱学检测
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
1. 波长范围：覆盖190-2500nm紫外-可见-近红外波段
2. 光谱分辨率：≤0.05nm（FWHM@546.1nm汞灯）
3. 衍射效率：一级衍射≥70%（300nm-800nm）
4. 杂散光水平：≤10⁻⁴（632.8nm处测量）
5. 波长重复性：±0.02nm（三次测量极差）
6. 透射率精度：±0.3%（NIST标准滤光片校准）
检测范围
1. 光学薄膜：包括增透膜、分光膜、高反膜的透过/反射特性分析
2. 半导体材料：GaN、SiC等宽禁带半导体的带隙及缺陷态表征
3. 激光晶体：Nd:YAG、Ti:Sapphire等晶体的吸收/发射光谱测试
4. 荧光材料：LED荧光粉的激发/发射光谱及量子效率测定
5. 光学镀膜元件：二向色镜、滤光片的截止陡度与通带平坦度评估
检测方法
ASTM E275-08(2017)：紫外、可见、近红外分光光度计性能验证规程
ISO 7944:1998：光学晶体紫外-红外光谱透过率测试方法
GB/T 13384-2008：光谱仪器通用技术条件
GB/T 32212-2015：荧光分光光度计性能测试方法
ISO 15470:2017：表面化学分析-X射线光电子能谱仪强度标校准
检测设备
1. Ocean Optics HR4000高分辨率光谱仪：2048像素CCD阵列，0.035nm光学分辨率
2. Shimadzu UV-3600 Plus紫外可见近红外分光光度计：三探测器系统（PMT/InGaAs/PbS）
3. Horiba iHR550成像光谱仪：1200g/mm光栅可选，焦长550mm
4. Agilent Cary 7000全能型分光光度计：积分球附件支持绝对反射率测量
5. PerkinElmer Lambda 950双光束分光光度计：全反射光学设计（TRA模式）
6. Bruker VERTEX 80v真空型FTIR光谱仪：扩展至远红外50cm⁻¹波段
7. Andor Shamrock SR-500i成像光谱仪：四通道同步探测功能
8. Avantes AvaSpec-ULS2048CL-EVO光纤光谱仪：75μm狭缝可调设计
9. Jasco FP-8500荧光分光光度计：150W氙灯光源配置
10. Zolix Omni-λ300i单色仪：1200g/mm闪耀光栅自动切换系统
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
前沿项目