智能卡芯片检测

点击:928丨发布时间:2025-06-06 20:14:03丨关键词:CMA/CNAS/ISO资质,中析研究所,智能卡芯片检测

上一篇:智能空开检测丨下一篇:智能机器人检测

参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

检测项目

电气特性检测:

  • 工作电压范围:1.8V-5.5V(容差±5%),参照ISO7816-3
  • 静态电流:≤1μA(待机模式),动态电流峰峰值≤20mA
  • 信号完整性:上升时间≤10ns,下降时间≤12ns,眼图符合性
物理特性检测:
  • 尺寸精度:长度公差±0.01mm,宽度公差±0.01mm
  • 厚度一致性:0.3mm±0.02mm,平面度误差≤0.005mm
  • 机械强度:弯曲测试至30N力,抗冲击能力(50g加速度)
安全功能检测:
  • 加密算法验证:AES-256加解密成功率≥99.9%,参照FIPS140-2
  • 抗攻击能力:抗故障注入(电压毛刺≤1.5V),抗侧信道分析(信噪比≤-30dB)
  • 密钥管理:密钥生成时间≤100ms,存储完整性测试
环境适应性检测:
  • 温度循环:-40°C至85°C循环100次,功能保持率100%
  • 湿度测试:85%RH下168小时,绝缘电阻≥10MΩ
  • 振动测试:频率10Hz-2000Hz,加速度5g,无结构失效
接口协议检测:
  • 接触接口:符合ISO7816-3协议,ATR响应时间≤400ms
  • 非接触接口:符合ISO14443-3协议,载波频率13.56MHz±7kHz
  • 双模式切换:模式切换时间≤50ms,协议冲突检测
耐久性检测:
  • EEPROM擦写次数:≥100,000次,数据保持≥10年
  • 接触端子耐磨:插拔次数≥10,000次,接触电阻变化≤10%
  • 寿命加速测试:85°C/85%RH下1000小时,故障率≤0.1%
电磁兼容性检测:
  • 辐射发射:30MHz-1GHz频段≤40dBμV/m,参照CISPR22
  • 抗扰度:静电放电±8kV,射频场抗扰度10V/m
  • 传导干扰:电源线噪声≤46dBμV,信号线屏蔽效能
功能验证检测:
  • 指令集执行:APDU命令响应正确率100%,延迟≤100ms
  • 存储器访问:读写速度≥100kB/s,地址映射验证
  • 中断处理:中断响应时间≤10μs,优先级测试
存储器特性检测:
  • 数据保留:-25°C下数据保持≥15年,参照JESD22-A117
  • 错误率:位错误率≤10^-9,ECC纠正能力验证
  • 功耗分布:激活电流≤5mA,休眠电流≤0.5μA
加密性能检测:
  • 算法速度:AES-256加密时间≤2ms/block,RSA2048签名时间≤50ms
  • 随机数生成:熵源质量≥0.99,NISTSP800-22测试通过率
  • 密钥存储:物理防篡改能力,熔丝烧录验证

检测范围

1.接触式智能卡芯片:重点检测接触端子电气参数和机械耐久性,确保ISO7816-3协议符合性

2.非接触式智能卡芯片:侧重射频性能(13.56MHz载波)和协议兼容性,包括ISO14443-3抗干扰测试

3.双界面智能卡芯片:综合检测接触与非接触模式切换可靠性和接口冲突,覆盖模式转换时间

4.SIM卡芯片:强调移动网络协议(GSM/UMTS)执行和存储安全,包括加密算法验证

5.银行卡芯片:支付安全核心检测,如EMV标准符合性、交易响应时间和抗侧信道攻击

6.身份证芯片:生物特征数据存储完整性测试和加密验证,侧重物理防克隆能力

7.交通卡芯片:快速交易性能(响应时间≤100ms)和耐久性,包括高频使用下的擦写次数

8.安全模块芯片:高强度加密引擎检测,如抗物理攻击和密钥管理,确保FIPS140-2合规

9.嵌入式SE芯片:集成到设备的芯片检测,重点环境适应性(温度/湿度)和接口隔离

10.NFC芯片:近场通信性能测试,包括互操作性和电磁兼容性,覆盖短距离传输可靠性

检测方法

国际标准:

  • ISO7816-3智能卡接触接口电气特性与协议
  • ISO14443-3非接触式识别卡传输协议
  • ISO10373-6智能卡机械特性与耐久性测试
  • ISO24770电磁兼容性测试方法
  • FIPS140-2加密模块安全要求
国家标准:
  • GB/T16649.3识别卡集成电路卡接触接口电气特性
  • GB/T22351.3非接触式集成电路卡射频接口测试
  • GB/T2423.1电工电子产品环境试验温度测试
  • GB/T17626.2电磁兼容性静电放电抗扰度
  • GB/T32907智能卡安全技术要求
(方法差异说明:ISO7816-3与GB/T16649.3在电压容差测试参数存在±0.1V偏差;FIPS140-2与GB/T32907在加密算法验证上增加侧信道分析要求)

检测设备

1.智能卡测试系统:型号TC-2000(测试频率范围DC-100MHz,精度±0.1%)

2.逻辑分析仪:型号LA-300(采样率10GS/s,通道数32)

3.数字示波器:型号DSO-600(带宽1GHz,存储深度10M点)

4.可编程电源:型号PS-500(电压输出0-30V,电流精度±0.5%)

5.环境试验箱:型号ET-150(温度范围-70°C至180°C,湿度控制10%-98%RH)

6.力学测试机:型号MT-100(载荷范围0.1N-100N,位移分辨率0.001mm)

7.EMC测试仪:型号EMC-900(频率覆盖9kHz-6GHz,场强精度±1dB)

8.加密分析仪:型号CA-500(支持AES/RSA/ECC,时间分辨率1ns)

9.射频测试仪:型号RF-400(载波频率13.56MHz,调制精度±0.1%)

10.存储器测试器:型号MT-200(擦写次数测试至1,000,000次,数据校验)

11.静电放电模拟器:型号ESD-800(放电电压±30kV,波形符合IEC61000-4-2)

12.温度循环台:型号TCT-100(温变率10°C/min,循环次数可设)

13.信号发生器:型号SG-700(频率范围1MHz-3GHz,输出电平-120dBm至+20dBm)

14.协议分析仪:型号PA-400(支持ISO7816/14443协议解码,误码率测试)

15.功耗分析仪:型号PA-300(电流测量范围1nA-1A,精度

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。