二维衍射图检测

点击：98丨发布时间：2025-04-01 11:03:00丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，二维衍射图检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.晶面间距测量：精度0.0001nm，覆盖0.1-10nm范围

2.衍射峰半高宽分析：分辨率≤0.01，用于晶粒尺寸计算

3.择优取向度测定：采用极图法量化织构系数（TC值）

4.残余应力检测：测量范围2000MPa，空间分辨率50μm

5.物相定量分析：Rietveld精修误差＜1wt%

1.金属材料：包括铝合金、钛合金等航空航天结构件

2.半导体材料：硅基外延片、GaN薄膜等电子器件基材

3.陶瓷材料：氧化锆齿科修复体、碳化硅耐火材料

4.高分子材料：聚乙烯单晶薄膜、液晶聚合物纤维

5.地质样品：页岩矿物组成分析、陨石晶体结构鉴定

ASTME915:残余应力测量的X射线衍射标准方法

ISO20203:铝炭材料晶格常数测定规范

GB/T23415:金属材料织构度的测定方法

ASTME2860:纳米材料XRD晶粒尺寸分析指南

GB/T30705:微区X射线衍射分析方法通则

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：配备9kW旋转阳极靶，支持掠入射模式

2.BrukerD8Discover微区衍射系统：配置500μm准直器与EBSD联用接口

3.PANalyticalEmpyrean高温附件：温度范围-190-1600℃，真空度10⁻⁶mbar

4.MalvernPanalyticalX'Pert3MRD：四轴测角仪，角度重复性0.0001

5.ThermoFisherARLEQUINOX1000：便携式XRD系统，重量＜15kg

6.ProtoLXRD残余应力仪：集成激光定位系统与自动换样台

7.ShimadzuXRD-7000：配备石墨单色器与应力分析专用软件

8.BrukerD2PHASER桌面式XRD：采用LynxEye阵列探测器

9.OxfordDiffractionXcaliburE：配备OnyxCCD探测器与低温系统

10.HUBERG670Guinier相机：波长1.5406，扫描速度0-100/min可调

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

其他检测