反射增宽检测

点击：913丨发布时间：2025-03-21 10:38:06丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，反射增宽检测

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

反射率偏差范围：±0.5%（250-2500nm波段）

入射角精度：±0.1°（5°-85°可调）

偏振依赖性：S/P波差异≤1.2%

半峰宽（FWHM）：±3nm（特征峰测量）

表面粗糙度关联性：Ra≤5nm时反射展宽≤2%

检测范围

光学镀膜材料（AR/IR膜层）

半导体晶圆（Si, GaAs, InP基片）

显示面板（ITO导电膜、偏光片）

光伏组件（PERC电池钝化层）

精密光学元件（棱镜、滤光片）

检测方法

ASTM E903-20：材料太阳吸收率与反射率测试

ISO 13696:2002：激光损伤阈值测试中的反射特性分析

GB/T 26331-2010：光学薄膜反射特性测量规范

ISO 14782:2019：透明材料雾度与反射率关联测试

GB/T 36226-2018：半导体晶圆表面光学特性测试方法

检测设备

PerkinElmer Lambda 1050+分光光度计：250-3300nm全波段反射率测量

SENTECH SE850椭偏仪：纳米级膜厚与复折射率同步分析

CRAIC Apollo-ILM显微光谱系统：微区（10μm）反射谱采集

SUSS MicroTec ACS200自动探针台：晶圆级全自动反射映射测试

Coherent Pharos激光损伤测试仪：1064nm/10ns脉冲下的动态反射监测

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。