等离子体频率检测

点击：914丨发布时间：2025-05-12 11:53:38丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，等离子体频率检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.等离子体频率范围：测量0.1-100THz频段内的共振响应
2.电子密度测定：精度5%，量程10¹⁸-10²²cm^-3
3.碰撞频率分析：分辨率0.01THz
4.介电常数实部/虚部：ε₁误差≤0.05，ε₂误差≤0.02
5.温度依赖性测试：-196℃至300℃温控范围

检测范围

1.半导体材料：硅基/III-V族化合物晶圆
2.金属薄膜：金/银/铝纳米结构薄膜（厚度10-200nm）
3.等离子体涂层：ITO透明导电膜（方阻5-100Ω/sq）
4.纳米复合材料：石墨烯/碳纳米管复合体系
5.光学器件：超表面/光子晶体器件（周期结构≤λ/10）

检测方法

1.ASTME2318-13：微波频段反射谱分析法
2.ISO1853:2018：导电材料高频特性测试规程
3.GB/T13301-2019：半导体载流子浓度测定规范
4.ISO14707:2015：辉光放电光谱法元素分析
5.GB/T30111-2013：太赫兹时域光谱技术通则

检测设备

1.KeysightPNA-XN5247B：矢量网络分析仪（10MHz-67GHz）
2.LakeShoreCRX-6.5K：低温探针台（4K-475K）
3.TeraViewTPS4000：太赫兹时域光谱系统（0.06-4THz）
4.Agilent8720ES：扫频微波反射计（50MHz-20GHz）
5.J.A.WoollamM-2000UI：宽谱椭偏仪（190-2500nm）
6.OxfordInstrumentsPlasmaPro100：ICP等离子体源
7.Keithley4200A-SCS：半导体参数分析系统
8.BrukerDimensionIcon：原子力显微镜（导电模式）
9.MalvernPanalyticalEmpyrean：X射线衍射仪（薄膜分析）
10.HORIBALabRAMHREvolution：显微拉曼光谱仪

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

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