颗粒度分析法检测
点击：98丨发布时间：2025-05-12 11:52:54丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，颗粒度分析法检测
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
1.粒径分布范围：测定0.1-3500μm区间内颗粒的D10/D50/D90值
2.比表面积测定：采用BET法测量0.01-2000m/g比表面积
3.颗粒形貌分析：圆形度≥0.85判定为球形颗粒
4.Zeta电位测试：测量100mV范围内的表面电荷特性
5.孔隙率检测：开孔孔隙率测量精度达0.5%
检测范围
1.金属粉末：钛合金/铝合金/铜基粉末冶金原料
2.陶瓷材料：氧化铝/碳化硅/氮化硼精细陶瓷粉体
3.药品粉末：API原料药/药用辅料微粉化处理品
4.化工催化剂：分子筛/贵金属负载型催化剂载体
5.食品添加剂：二氧化硅抗结剂/乳糖辅料微粉
检测方法
1.激光衍射法：ASTMB822-20/ISO13320:2020
2.动态光散射法：ISO22412:2017/GB/T29022-2012
3.筛分分析法：GB/T6003.1-2012/ASTME11-20
4.气体吸附法：ISO9277:2010/GB/T19587-2017
5.图像分析法：ISO13322-2:2006/GB/T21649.2-2008
检测设备
1.MalvernMastersizer3000：激光衍射仪（0.01-3500μm）
2.BeckmanCoulterLS13320XR：干湿法双模粒度仪
3.MicromeriticsTriStarIIPlus：BET比表面分析仪
4.HoribaLA-960V2：动态静态双模激光粒度仪
5.SympatecHELOS/RODOS：气动分散干法测试系统
6.ShimadzuSALD-7500nano：纳米粒度/Zeta电位联用仪
7.BettersizeBT-9300ST：激光散射联合图像分析系统
8.BrookhavenZetaPALS：高精度Zeta电位分析仪
9.QuantachromeAutosorb-iQ：全自动孔隙率分析仪
10.OlympusBX53M：数字图像颗粒形貌分析系统
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
前沿项目