平面指数检测
点击：96丨发布时间：2025-02-26 17:46:47丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，平面指数检测
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
平面度误差：测量范围0.1μm/m至5μm/m，精度±0.02μm
表面粗糙度Ra：检测范围0.01μm~25μm，符合ISO 4287分级
平行度公差：基准面与测量面偏差≤0.05mm/m
厚度均匀性偏差：允许波动±0.005mm（超薄材料）至±0.1mm（常规板材）
表面波纹度Wt：波长范围0.08mm~8mm，幅值分辨率0.001μm
检测范围
金属板材：铝合金、不锈钢、钛合金等轧制板材
塑料薄膜：PET、PC、PI等光学级薄膜材料
玻璃基板：显示面板用超薄玻璃、光学棱镜
陶瓷基片：电子封装用氧化铝、氮化铝基板
复合材料面板：碳纤维增强塑料（CFRP）、蜂窝夹层结构
检测方法
平面度检测：ISO 12781-1:2011几何公差规范，GB/T 11337-2004平面度误差评定
粗糙度测量：ASTM D7127-17非接触式轮廓法，ISO 25178-2:2022三维表面参数
平行度验证：ASTM D1185-98a(2020)板材平行度标准，GB/T 1958-2017几何量公差检测
厚度均匀性检测：GB/T 2951.11-2008电工绝缘材料试验，ISO 4591:1992塑料薄膜厚度测定
波纹度分析：ISO 12085:1998表面结构波纹度法，ASME B46.1-2019表面纹理标准
检测设备
三坐标测量机：Mitutoyo CRYSTA-Apex S系列，配备RENISHAW SP25M扫描探头，空间精度(1.9+L/250)μm
激光轮廓仪：Taylor Hobson Form Talysurf i系列，垂直分辨率0.8nm，横向采样间隔0.5μm
光学干涉仪：Zygo Verifire MST+，波长632.8nm，平面度测量重复性0.01λ
薄膜测厚系统：KLA P-17 Profilometer，支持0.1μm~10mm厚度范围，接触力0.1mN~10mN可调
非接触式影像仪：Keyence IM-8000，配备20倍~5000倍电动镜头，XYZ轴重复精度±0.1μm
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
前沿项目