紫外光探测器检测

点击：940丨发布时间：2025-06-06 20:22:10丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，紫外光探测器检测

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

光学性能检测：

• 响应度：灵敏度（A/W）、光谱响应范围（200-400nm，参照IEC60747-5-3）
• 量子效率：外部量子效率（EQE%）、内部量子效率（IQE%）

电气特性检测：

• 暗电流：漏电流值（pA级别）、温度系数（%/°C，参照GB/T18900）
• 噪声等效功率：NEP值（W/Hz^{1/2}）、信噪比（≥60dB）

线性度检测：

• 线性动态范围：动态范围值（dB）、非线性误差（≤1%）
• 光电流线性：电流输出稳定性（±0.5%）

热性能检测：

• 温度依赖性：热漂移量（%/°C）、工作温度范围（-40°C至85°C）
• 热噪声：约翰逊噪声水平（nV/Hz^{1/2}）

环境适应性检测：

• 湿度影响：相对湿度耐受（10-90%RH）、湿度系数（%/RH）
• 振动测试：加速度耐受（≥5g）、频率响应（5-2000Hz）

寿命测试检测：

• 平均无故障时间：MTBF值（≥10000小时）、老化率（%/年）
• 耐久性：循环次数（≥1000次）、退化特性

校准参数检测：

• 绝对灵敏度：校准精度（±1%）、相对光谱响应（参照ISO9342）
• 波长校准：中心波长偏差（±1nm）

噪声特性检测：

• 1/f噪声：噪声功率密度（nV²/Hz）、shot噪声（pA/Hz^{1/2}）
• 背景噪声：暗场噪声水平（≤0.1nW）

机械性能检测：

• 冲击耐受性：冲击加速度（≥50g）、封装完整性
• 弯曲测试：弯曲半径（≥5mm）、应变耐受（≤0.1%）

特殊应用检测：

• 日盲特性：可见光抑制比（≥100:1）、UV-C响应（250-280nm）
• 杀菌效率：杀菌率（≥99.9%）、辐照度均匀性（±5%）

检测范围

1.硅基紫外探测器：涵盖PIN和APD类型，重点检测量子效率和暗电流稳定性

2.GaN基紫外探测器：用于高响应速度应用，检测光谱响应范围和热漂移特性

3.SiC基紫外探测器：适用于高温环境，检测工作温度范围和线性动态范围

4.光电倍增管紫外探测器：包括端窗式结构，检测增益稳定性和噪声等效功率

5.紫外CCD/CMOS成像传感器：用于成像系统，检测分辨率（≥1024×768像素）和灵敏度均匀性

6.有机光电探测器：基于聚合物材料，检测响应时间稳定性和环境湿度影响

7.紫外LED阵列探测器：用于均匀光照，检测光输出均匀性和线性度误差

8.紫外光纤传感器：包括端面和侧面耦合型，检测耦合效率（≥90%）和传输损失

9.日盲紫外探测器：专用于太阳盲区，检测可见光抑制比和光谱纯度

10.紫外光功率计：用于辐射测量，检测校准精度（±2%）和动态响应范围

检测方法

国际标准：

• IEC60747-5-3分立半导体器件-光电探测器测试方法
• ISO9342-1光学和光子学-光学元件测试-第1部分：透射率测量
• ISO148-1金属材料-夏比摆锤冲击试验
• ASTME490太阳光谱辐照度标准

国家标准：

• GB/T18900半导体光电器件测试方法
• GB/T2423.10电工电子产品环境试验-振动试验
• GB/T2423.3电工电子产品环境试验-湿热试验
• GB/T2611试验机通用技术要求

方法差异说明包括IEC与GB在暗电流测试的温度范围差异（IEC要求-40°C至125°C，GB限定-25°C至85°C），以及ISO与ASTM在光谱响应校准的波长精度差异（ISO精度±0.5nm，ASTM±1nm）。

检测设备

1.紫外-可见分光光度计：PerkinElmerLambda950（波长范围190-3300nm，分辨率0.1nm）

2.光电测试系统：Keithley4200-SCS（电流测量范围1fA-1A，精度±0.1%）

3.恒温恒湿箱：ESPECSH-661（温度范围-70°C至180°C，湿度范围10-98%RH）

4.振动测试台：LansmontSRS-200（频率范围5-3000Hz，最大加速度100g）

5.光谱响应测试仪：BenthamTMc300（单色仪带宽0.1nm，检测限0.01nW）

6.暗电流测量系统：AgilentB1500A（电流分辨率1fA，电压范围±100V）

7.响应时间测试仪：TektronixDPO70000（带宽70GHz，上升时间<5ps）

8.环境测试箱：WeissTechnikWK3-340（温度稳定性±0.5°C，湿度波动±2%RH）

9.寿命测试系统：custom-builtagingchamber（温度循环-40°C至150°C，时间精度±1s）

10.线性度测试装置：Newport2936-R（光功率范围1nW-10W，稳定性±0.5%）

11.噪声分析仪：KeysightN9030B（频率范围20Hz-50GHz，灵敏度-174dBm/Hz）

12.冲击测试机：Instron9250HV（冲击能量500J，加速度范围10-500g）

13.紫外光源系统：HamamatsuL11934（波长输出250-400nm，功率稳定性±1%）

14.校准积分球：LabsphereUSS-2000（直径200mm，均匀性±1%）

15.高温探针台：CascadeSummit12000（温度范围-65°C至300°C，接触电阻

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。