有效截面检测

中子束透射法：利用已知能量的中子束通过待检测材料，测量透射中子的数量，通过比较入射和透射中子数，计算材料的有效截面。

共振自屏效应：通过观察中子在材料中的共振吸收特性，分析共振峰形状和宽度变化，以推导出材料的有效截面信息。

时间飞行法：让中子通过介质，利用时间飞行谱仪测定中子在介质中传播的时间，对比不同能量下的传播时间，推算出有效截面。

捕获测量：将样品置于探测器附近，测量中子被样品捕获后放出的伽马射线数量，以确定样品的中子吸收截面。

散射实验：通过检测中子在材料中的散射角度和能量变化，分析散射截面，从而获取材料的有效截面信息。

质谱仪：用于通过离子化样品并测量离子的质量与电荷比来分析分子结构和组成，从而间接测定核反应截面。

中子计数器：用于检测和计数中子，通过记录特定核反应中的中子产额评估有效截面。

散射计：测量粒子与靶核的散射角度和能量，从而获得反应的微分截面信息。

闪烁探测器：利用材料的闪烁效应来记录带电粒子或γ射线，评估反应产物并分析截面数据。

半导体探测器：利用半导体材料的电信号变化检测入射粒子，实现高能粒子的精确计数和能量测量。